產(chǎn)品展示
帶溫補(bǔ)面銅測厚儀、人性化設(shè)計(jì)CMI165銅測厚儀
點(diǎn)擊次數(shù)：32發(fā)布時間：2014/4/10 10:21:11
更新日期：2014/4/10 10:21:11
所 在 地：中國大陸
產(chǎn)品型號：CMI165
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
CMI165產(chǎn)品特色：
－－ 可測試高溫的PCB銅箔
－－ 顯示單位可為mils，μm或oz
－－ 可用于銅箔的來料檢驗(yàn)
－－ 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測試
－－ 可用于電鍍銅后的面銅厚度測試
－－ 配有SRP-T1，帶有溫度補(bǔ)償功能的面銅測試頭
－－ 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測試
CMI165產(chǎn)品規(guī)格：
－－利用微電阻原理通過四針式探頭進(jìn)行銅厚測量，符合EN 14571測試標(biāo)準(zhǔn)
－－厚度測量范圍：化學(xué)銅：0.25 - 12.7 μm（0.01 - 0.5 mils）
電鍍銅：2.0 - 254 μm（0.1 - 10 mils）
－－儀器再現(xiàn)性: 0.08 μm at 20 μm （0.003 mils at 0.79 mils）
－－強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能，包括數(shù)據(jù)記錄平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差和上下限提醒功能。
－－數(shù)據(jù)顯示單位可選擇mils、μm或oz
－－儀器的操作界面有英文和簡體中文兩種語言供選擇
－－儀器無需特殊規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片，可實(shí)現(xiàn)蝕刻后的線型銅箔的厚度測量，可測線寬范圍低至0.2 mm
－－儀器可以儲存9690條檢測結(jié)果（測試日期時間可自行設(shè)定）
－－測試數(shù)據(jù)通過USB2.0實(shí)現(xiàn)高速傳輸，也可保存為Excel格式文件
－－儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)
－－客戶可根據(jù)不同應(yīng)用靈活設(shè)置儀器
－－用戶可選擇固定或連續(xù)測量模式
－－儀器使用普通AA電池供電
