沖擊試樣缺口投影儀又稱(chēng)夏比投影儀，沖擊試樣投影儀，50倍投影儀，U/V型缺口投影儀。是專(zhuān)業(yè)用于檢測(cè)沖擊試樣缺口是否合格的重要檢測(cè)設(shè)備。

XT-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶(hù)的實(shí)際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而開(kāi)發(fā)的一種專(zhuān)用于檢驗(yàn)夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比，以確定被檢測(cè)的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，對(duì)比直觀。

XT-50型沖擊試樣缺口投影儀工作原理：

由光源發(fā)出的平行光線照射到夏比擺錘沖擊試樣的缺口，其投影輪廓經(jīng)過(guò)光學(xué)系統(tǒng)成像到CMOS芯片，轉(zhuǎn)換為可以采集到計(jì)算機(jī)的數(shù)字圖像信號(hào)，*后通過(guò)USB接口傳輸?shù)接?jì)算機(jī)，采用軟件對(duì)圖像自動(dòng)分析，計(jì)算得出缺口的尺寸數(shù)據(jù)。

夏比投影儀的原理，是普通輪廓投影儀改進(jìn)而成。光經(jīng)過(guò)凸透鏡形成平行光，經(jīng)過(guò)夏比沖擊樣塊，形成缺口投影，再經(jīng)過(guò)50X物鏡的放大，投射到投影屏上形成放大50X的實(shí)像，再與投影屏上50X的標(biāo)準(zhǔn)缺口進(jìn)行比對(duì)。從而判斷缺口是否合格。

XT-50型沖擊試樣缺口投影儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

該儀器采用光學(xué)投影的原理，由通過(guò)USB接口將光學(xué)系統(tǒng)所成的沖擊試樣缺口的輪廓的像采集到計(jì)算機(jī)，經(jīng)過(guò)專(zhuān)用軟件自動(dòng)分析計(jì)算，來(lái)確定檢驗(yàn)的沖擊試樣缺口的特征尺寸是否達(dá)到加工標(biāo)準(zhǔn)要求。操作簡(jiǎn)單，測(cè)量結(jié)果數(shù)據(jù)化，測(cè)量數(shù)據(jù)可保存。是夏比擺錘沖擊試驗(yàn)的輔助設(shè)備，理化檢測(cè)試驗(yàn)室必配儀器。

XT-50型沖擊試樣缺口投影儀技術(shù)參數(shù)：

1.投影屏直徑：        180mm

2.工作臺(tái)尺寸：

方工作臺(tái)尺寸：    110×125mm

圓工作臺(tái)直徑：    90mm

工作臺(tái)玻璃直徑：  70mm

3.工作臺(tái)行程：

縱向：            ±10mm

橫向：            ±10mm

升降：            ±12mm（無(wú)刻度）

4.工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：    0~360°（無(wú)刻度）

5.儀器放大倍率：      50X

物鏡放大倍率：    2.5X

投影物鏡放大倍率：20X

6.光源（鹵鎢燈）：    12V    100W

7.電源：             220V    50Hz

8.外形尺寸：         515×224×603mm（長(zhǎng)×寬×高）

9.重量：             約18Kg