更新日期：1900/1/1 0:00:00

所 在 地：中國(guó)

產(chǎn)品型號(hào)：1型

簡(jiǎn)單介紹：掃描電聲顯微鏡（SEAM)可用于金屬和陶瓷材料的應(yīng)力分析，半導(dǎo)體材料和電子元器件的位錯(cuò)和界面缺陷顯示，信息功能材料的電疇、磁疇及其隨外場(chǎng)變化的動(dòng)態(tài)行為觀察，多晶材料（薄膜、涂層）晶粒、晶界以及內(nèi)部缺陷的檢測(cè)。此系統(tǒng)有力地增強(qiáng)和擴(kuò)展了普通掃描電鏡的功能，可方便地裝備在其它類(lèi)型的掃描電鏡上，是把電子顯微術(shù)和聲學(xué)顯微術(shù)集成為一體的一種新型的顯微成像方法，具有電子顯微術(shù)高分辨率和聲學(xué)顯微術(shù)內(nèi)部成像的特點(diǎn)。