產(chǎn)品展示
石英晶體測(cè)試儀
點(diǎn)擊次數(shù)：319發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：深圳
產(chǎn)品型號(hào)：X-150D
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
1．晶體的串聯(lián)諧振頻率FS。
2．晶體的負(fù)載諧振頻率FL。
3．晶體的串聯(lián)諧振電阻RR。
4．晶體的負(fù)載諧振電阻RL。
5．晶體的靜電容C0。
6．晶體的負(fù)載電容CL。
7．晶體的頻差ppm或KHz。
一、技術(shù)指標(biāo)：
1．晶體頻率測(cè)量范圍：3―――６０ＭＨｚ。
2．等效電阻測(cè)量范圍：０―――２００Ω。
3．靜電容測(cè)量范圍： ０―――２０ＰＦ。
4．負(fù)載電容的調(diào)整范圍：１０―――４０ＰＦ。
5．激勵(lì)電平的調(diào)整范圍：１０―――５００ｕＷ。
6．晶體等效電阻的測(cè)量誤差：≤５％。
7．負(fù)載電容和靜電容的測(cè)量誤差： ≤＋／－０。１ＰＦ。
8．激勵(lì)電平誤差： ≤５０％。
9．工作溫度范圍： �。保胆D――＋３５℃。
10．時(shí)基穩(wěn)定度（10MHz）： 5×10-7
11．電源電壓： �。玻玻埃謅c�。保埃�。
12．功耗： ≤１５W。
