產(chǎn)品展示
覆層厚度的測(cè)量方法主要有
點(diǎn)擊次數(shù)：75發(fā)布時(shí)間：2014/2/17 10:46:22
更新日期：2014/2/17 10:46:22
所 在 地：中國(guó)大陸
產(chǎn)品型號(hào)：
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優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線熒光法、β射線反向散射法、電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。www.bjdmd.net 麥考特覆層測(cè)厚儀進(jìn)口
