產(chǎn)品展示
X-RoHS+SDD型X射線熒光光譜儀
點(diǎn)擊次數(shù)：46發(fā)布時間：2013/6/27 9:56:24
更新日期：2024/12/25 9:10:58
所 在 地：美洲
產(chǎn)品型號：X-RoHS+SDD型
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
產(chǎn)品優(yōu)勢：
1）簡單、快速進(jìn)行 RoHS 標(biāo)準(zhǔn)中有害物質(zhì)的認(rèn)定；
2）瞬間得到指定元素的精確分析結(jié)果；
3）集成照相機(jī)和微 X 射線光點(diǎn)能充分識別目標(biāo)區(qū)域；
4）擁有自動基質(zhì)系統(tǒng)，即便不是專業(yè)的技術(shù)人員，也可以輕松操控這臺儀器；
5）直觀用戶友好的專有軟件；
6）堅(jiān)穩(wěn)緊湊的設(shè)計(jì)。
7）測量范圍從F（9）-Fm （100），元素含量分析范圍從sub ppm~100%；
8）可達(dá)到123eV的分辨率；
9）輕元素探測器可選；
10）高計(jì)數(shù)率結(jié)合高度創(chuàng)新的數(shù)字技術(shù)
主要應(yīng)用：
RoHS/WEEE 指令檢測，篩查受管制元素（Pb,Hg,Cd,Cr,Br）。包括：石化、聚合物、冶金 環(huán)境、礦物質(zhì)、取證以及自定義應(yīng)用程序等。
技術(shù)參數(shù)：
| | X-RoHS+SDD用于RoHS環(huán)境 | X-RoHS+SDD用于全部分析環(huán)境 |
| 測量能力 | | |
| 測量范圍 | Pb, Hg, Cd, Cr, Br | F（9）-Fm （100） |
| 元素含量分析范圍 | Sub ppm - 100% | |
| X光管 | | |
| X光源 | Mo–陽級標(biāo)準(zhǔn) | |
| X-射線電壓 | 50kV, 50W | |
| 激發(fā)模式 | 直接使用過濾器 | |
| 光斑尺寸 | 微點(diǎn)—0.1mm，宏點(diǎn)0.8mm（根據(jù)樣品） | |
| 穩(wěn)定性 | 室溫條件下精確到0.1% | |
| X光探測器 | | |
| 探測器 | 硅漂移探測器/超級SDD，熱電冷卻 | |
| 分辨率 | 129 eV ± 5eV （使用超級SDD，可達(dá)到123 eV ± 5eV） | |
| 特性 | | |
| 工作條件 | 空氣/氦氣 | |
| 濾光片 | 6款可選的軟件 | |
| 電源 | 115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz | |
| 脈沖加工 | 多信道分析 | |
| 尺寸（L×W×H，cm） | 55×55×32（不含包裝），80×80×65（含包裝） | |
| 重量 | 50Kg（凈重），90Kg（總重） | |
| 樣品室尺寸 | 22 x 22cm, H=5cm | |
| 電腦 | 集成 pc | |
| 軟件 | | |
| 操作軟件 | nEXt，運(yùn)行在Windows XP下的數(shù)據(jù)采集及分析軟件包外加初級基本參數(shù)算法 | |
| 控制 | 樣品激發(fā)，探測，樣品操控，數(shù)據(jù)采集及處理的自動控制 | |
| 光譜處理 | 逃逸峰及背底的自動去除，自動重疊峰解析，圖解式統(tǒng)計(jì)報告 | |
| 定量分析算法 | 考慮共存元素效應(yīng)的多元素回歸法（六種模式）。總計(jì)數(shù)，凈計(jì)數(shù)擬合及數(shù)字濾波器法。 | |
| 報告 | 用戶可自定的數(shù)據(jù)報表及打印形式 | |
