產(chǎn)品展示
X-CITE SDD型臺(tái)式X射線熒光光譜儀
點(diǎn)擊次數(shù):41發(fā)布時(shí)間:2013/6/27 9:53:42

更新日期:2024/12/25 9:10:51
所 在 地:美洲
產(chǎn)品型號(hào):X-CITE SDD型
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
測(cè)量能力 | |
測(cè)量范圍 | F(9)-Fm(100) |
元素含量分析范圍 | sub ppm - 100% |
X光管 | |
X光源 | Rh/Ag/Mo/W/Pd – 陽級(jí) |
X-射線電壓 | 40kV, 18W |
激發(fā)模式 | 直接使用過濾器 |
穩(wěn)定性 | 室溫條件下精確到0.1% |
X光探測(cè)器 | |
探測(cè)器 | 硅漂移探測(cè)器,避免使用液態(tài)氮 |
分辨率 | 129 eV ± 5eV |
窗口 | Be |
特性 | |
自動(dòng)成樣 | 8/16個(gè)位置 |
工作條件 | 空氣/真空/氦氣 |
濾光片 | 6款可選的軟件 |
電源 | 115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz |
脈沖加工 | 多信道分析 |
尺寸(L×W×H,cm) | 55×55×32(不含包裝),80×80×65(含包裝) |
重量 | 50Kg(凈重),90Kg(總重) |
樣品室尺寸 | 22 x 22cm, H=5cm |
電腦 | 集成 pc |
軟件 | |
操作軟件 | nEXt,運(yùn)行在Windows XP下的數(shù)據(jù)采集及分析軟件包外加初級(jí)基本參數(shù)算法 |
控制 | 樣品激發(fā),探測(cè),樣品操控,數(shù)據(jù)采集及處理的自動(dòng)控制 |
光譜處理 | 逃逸峰及背底的自動(dòng)去除,自動(dòng)重疊峰解析,圖解式統(tǒng)計(jì)報(bào)告 |
定量分析算法 | 考慮共存元素效應(yīng)的多元素回歸法(六種模式)。總計(jì)數(shù),凈計(jì)數(shù)擬合及數(shù)字濾波器法。 |
報(bào)告 | 用戶可自定的數(shù)據(jù)報(bào)表及打印形式 |