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產(chǎn)品展示

X-CITE SDD型臺(tái)式X射線熒光光譜儀

點(diǎn)擊次數(shù):41發(fā)布時(shí)間:2013/6/27 9:53:42

X-CITE SDD型臺(tái)式X射線熒光光譜儀

更新日期:2024/12/25 9:10:51

所 在 地:美洲

產(chǎn)品型號(hào):X-CITE SDD型

簡單介紹:產(chǎn)地:美國主要特點(diǎn):1)X-CITE能量色散型熒光光譜儀能幫助用戶輕松識(shí)別樣品的元素構(gòu)成;2)非常適合于傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)室操作,它還包括了完全整合的電腦系統(tǒng)。堅(jiān)固的設(shè)計(jì)和結(jié)構(gòu)使得該儀器成為移動(dòng)實(shí)驗(yàn)室的理想選擇;3)運(yùn)用高分辨率的探測(cè)器,軟件集成相機(jī)以及具有可變光點(diǎn)尺寸的強(qiáng)大的X射線管來調(diào)節(jié)大小不一致的樣品以及測(cè)量極低能級(jí)的限制物質(zhì);4)強(qiáng)大nEXt軟件平臺(tái)能提供定性及定量分析,操作簡單。這一軟件平臺(tái)是所有產(chǎn)品通用的;5)測(cè)量范圍從F (9)~ Fm(100);

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細(xì)內(nèi)容

6)避免使用液氮冷卻,節(jié)省費(fèi)用和時(shí)間;
7)硅漂移探測(cè)器(SDD)具有電子噪音低和高計(jì)數(shù)率的特點(diǎn),與Si-PIN 探測(cè)器相比,SDD 探測(cè)器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析結(jié)果,適用于重元素及輕元素。 
主要用途:
石油化工、建筑、教育科研、礦物開采、制藥、法醫(yī)鑒定等。 
技術(shù)參數(shù):
測(cè)量能力
 
測(cè)量范圍
F(9)-Fm(100)
元素含量分析范圍
sub ppm - 100%
X光管
 
X光源
Rh/Ag/Mo/W/Pd – 陽級(jí)
X-射線電壓
40kV, 18W
激發(fā)模式
直接使用過濾器
穩(wěn)定性
室溫條件下精確到0.1%
X光探測(cè)器
 
探測(cè)器
硅漂移探測(cè)器,避免使用液態(tài)氮
分辨率
129 eV ± 5eV
窗口
Be
特性
 
自動(dòng)成樣
8/16個(gè)位置
工作條件
空氣/真空/氦氣
濾光片
6款可選的軟件
電源
115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz
脈沖加工
多信道分析
尺寸(L×W×H,cm)
55×55×32(不含包裝),80×80×65(含包裝)
重量
50Kg(凈重),90Kg(總重)
樣品室尺寸
22 x 22cm, H=5cm
電腦
集成 pc
軟件
 
操作軟件
nEXt,運(yùn)行在Windows XP下的數(shù)據(jù)采集及分析軟件包外加初級(jí)基本參數(shù)算法
控制
樣品激發(fā),探測(cè),樣品操控,數(shù)據(jù)采集及處理的自動(dòng)控制
光譜處理
逃逸峰及背底的自動(dòng)去除,自動(dòng)重疊峰解析,圖解式統(tǒng)計(jì)報(bào)告
定量分析算法
考慮共存元素效應(yīng)的多元素回歸法(六種模式)。總計(jì)數(shù),凈計(jì)數(shù)擬合及數(shù)字濾波器法。
報(bào)告
用戶可自定的數(shù)據(jù)報(bào)表及打印形式
 

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