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技術(shù)文章
MCT200 涂層測厚儀說明書
點擊次數(shù)：926 發(fā)布時間：2011/11/22 9:03:56
1 概述
本儀器是便攜式涂（鍍）層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂層、鍍層厚度的測量，也可進行薄膜厚度測量。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域，是材料保護專業(yè)必備的儀器。本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 4956─2003 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測量 磁性法
GB/T 4957─2003 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層 覆蓋層厚度測量渦流法
JB/T 8393─1996 磁性、渦流式覆層厚度測量儀
JJG 818─2005 《磁性、電渦流式覆層厚度測量儀》
1.1 技術(shù)參數(shù)
l 采用了磁性和渦流兩種測厚方法。通過選擇相應(yīng)的測頭，既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
l 測量范圍：（0～1250） μm（F1、N1測頭），F10測頭可達10mm；
l 分 辨率：0.1μm （F1、N1測頭）
l 示值精度：±（3%H+1）μm; H為被測涂層厚度
l 顯示方法：高對比度的段碼液晶顯示，高亮度EL背光；
l 存儲容量：可存儲20組（每組*多50個測量值）測量數(shù)據(jù)
l 單位制：公制（μm）、英制（mil），可自由轉(zhuǎn)換
l 工作電壓：3V（2節(jié)5號堿性電池）
l 持續(xù)工作時間：大于200小時（不開背光時）
l 通訊接口：USB1.1，可與PC機連接、通訊
l 外形尺寸：125mm×67mm×31 mm
l 整機重量：340g
1.2 主要功能
l 有十種測頭類型可供選擇，測頭接觸部件鍍硬鉻或為紅寶石，經(jīng)久耐用；
l 通過選擇相應(yīng)的測頭，既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
l 具有測頭零點校準(zhǔn)、一點校準(zhǔn)、兩點校準(zhǔn)功能, 并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正；具有測量狀態(tài)提示功能；
l 有EL背光顯示，方便在光線昏暗環(huán)境中使用；
l 有剩余電量指示功能，可實時顯示電池剩余電量；
l 具有自動休眠、自動關(guān)機等節(jié)電功能；
l 帶有USB1.1通訊接口，可將測量值傳輸至PC機。
l 可選擇配備微機軟件，具有傳輸測量結(jié)果、測值存儲管理、測值統(tǒng)計分析、打印測值報告等豐富功能；
l 采用鋁制外殼，小巧、便攜、堅實耐用，適用于惡劣的操作環(huán)境，抗振動、沖擊和電磁干擾；
1.3 工作原理
本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬 （如鋼、鐵、鎳、合金和硬磁性鋼等） 基體上非磁性覆蓋層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）,及非磁性金屬基體（如銅、鋁、不銹鋼、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。
| 磁性法（F型測頭）： 當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時，測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。 | 磁性法基本工作原理 |
| 渦流法（N型測頭）： 利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個電磁場，當(dāng)測頭與覆蓋層接觸時，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對測頭中的線圈產(chǎn)生反饋作用，通過測量反饋作用的大小可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。 | 渦流法基本工作原理 |
1.4 儀器配置
| | 序號 | 名稱 | 數(shù)量 | 備注 |
| 標(biāo)準(zhǔn) 配置 | 1 | 主機 | 1臺 | |
| 2 | F1測頭 | 1只 | 或N1測頭 | |
| 3 | 校準(zhǔn)片 | 5片 | | |
| 4 | 校零基體 | 1塊 | 根據(jù)測頭選配 | |
| 5 | 儀器箱 | 1只 | | |
| 6 | 隨機資料 | 1份 | | |
| 7 | AA（5號）尺寸堿性電池 | 2只 | | |
| 8 | | | | |
| 可選 配置 | 9 | 其它類型測頭 | | 根據(jù)用途選擇 |
| 10 | 數(shù)據(jù)管理軟件 | 1套 | 軟件光盤 | |
| 11 | USB通訊線纜 | 1條 | |
新購儀器請參照裝箱單仔細查對儀器及附件，不全時請及時與廠家聯(lián)系。
1.5 工作條件
環(huán)境溫度：操作溫度－20℃～＋50℃；存儲溫度：-30℃～＋70℃
相對濕度≤90％；
周圍環(huán)境無強烈振動、無強烈磁場、無腐蝕性介質(zhì)及嚴(yán)重粉塵。
2 結(jié)構(gòu)與外觀
2.1 儀器外觀
1 主機
2 測頭
2.2 主機結(jié)構(gòu)
1 外殼
2 鍵盤
3液晶屏
4電池倉蓋
5測頭插座
6 USB插座
7銘牌
2.3 測頭結(jié)構(gòu)
| 1. V型口 2. 加載套 3. 導(dǎo)線 4. 插頭滑套 5. 插頭尾套 |
測頭上設(shè)計有芯片，測頭基本校準(zhǔn)數(shù)據(jù)就存儲于該芯片內(nèi)。開機時，儀器會自動讀取該芯片，并將測頭的基本校準(zhǔn)數(shù)據(jù)下載到儀器中。
插頭插入儀器操作：使插頭定位臺階對準(zhǔn)插座定位槽，緊握插頭尾端向前適當(dāng)用力推動插頭滑入插座。
拔出插頭操作：捏住插頭滑套，適當(dāng)用力向外拉動插頭。
插拔測頭時，應(yīng)沿插頭軸線用力，不可旋轉(zhuǎn)測頭，以免損壞測頭電纜芯線。
2.4主顯示界面
儀器開機后會自動進入顯示界面，如下圖所示：
測量狀態(tài)標(biāo)識：該標(biāo)識反映測頭與被測工件接觸是否良好
校準(zhǔn)標(biāo)識：對儀器進行兩點校準(zhǔn)或者基本校準(zhǔn)時出現(xiàn)
測頭類型：當(dāng)前測頭類型：F型或者N型
存儲標(biāo)識：存儲數(shù)據(jù)時，或者對儀器存儲器操作時，出現(xiàn)該標(biāo)識
單位制式：μm（公制時），或者mil（英制時）
電池電量：電池剩余電量顯示
測量值：顯示厚度測量值，以及簡單的操作提示信息。
2.5鍵盤定義
| 儀器開關(guān)鍵 | 儀器校準(zhǔn) | |
| 背光開關(guān)鍵 | 確認(rèn)鍵 | |
| 測頭校零 | 數(shù)值增加鍵 | |
| 單位制切換/退出鍵 | 數(shù)值減小鍵 | |
| 數(shù)據(jù)存儲/刪除鍵 | | |
3 儀器使用
3.1 測頭選擇
應(yīng)根據(jù)基體、涂層的性質(zhì)，以及涂層的厚度、工件形狀選擇測頭。選擇的依據(jù)請參考本手冊附錄1和附錄2。
3.2儀器開、關(guān)機
1） 將測頭插頭插入儀器上端的測頭插座中；
2） 按 鍵，伴隨著開機蜂鳴聲，儀器屏幕顯示開機界面后自動進入測量界面，此時儀器的各參數(shù)為上次關(guān)機前使用的參數(shù)；
在開機狀態(tài)下，按 鍵可以實現(xiàn)關(guān)機操作。
注意！
1，開機過程中，儀器會自動識別測頭并顯示所使用測頭的型號。
2，如果開機時儀器未連接測頭，或者測頭損壞，則儀器先后顯示”-Prb”和”E03”后自動關(guān)機。
3.3基本測量步驟
1） 準(zhǔn)備好待測工件；
2） 將測頭插頭插入主機的測頭插座中；
3） 儀器開機；
4） 判斷是否需要校準(zhǔn)儀器。如果需要，選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進行校準(zhǔn)；
5） 測量。將測頭垂直接觸工件的測試面，并輕壓測頭加載套，當(dāng)測頭與被測表面接觸穩(wěn)定后，隨著一聲蜂鳴聲，屏幕將顯示測量標(biāo)識和測量值。如果測量標(biāo)識閃爍或無測量標(biāo)識則表示測頭不穩(wěn)定。移開測頭后，測量標(biāo)識消失，厚度值保持。
6） 儀器關(guān)機。
注意！
1，如果在測量中測頭放置不穩(wěn)，會引起測量值與實際值偏差較大；
2，如果已經(jīng)進行了適當(dāng)?shù)男?zhǔn)，所有的測量值將保持在一定的誤差范圍內(nèi)（見附錄1）；
3，根據(jù)統(tǒng)計學(xué)的觀點，一次讀數(shù)是不可靠的。因此儀器的任何一個測量值都是五次"看不見"的測量的平均值。這五次測量是在幾分秒的時間內(nèi)由測頭和儀器完成的；
4，為使測量更加精確，可在一個點多次測量，并計算其平均值作為*終測量結(jié)果；
5，顯示測量結(jié)果后，一定要提起測頭至距離工件10mm以上，才可以進行下次測量。
3.4存儲功能
3.4.1存儲測量值
儀器中將存儲單元分成20個文件（F00-F19）,每個文件可存儲*多50個厚度測量值。厚度測量后可直接按鍵將測量值存入當(dāng)前文件中；如果要改變當(dāng)前文件，需要按下述步驟進行：
1） 在厚度測量狀態(tài)下，按 鍵，屏幕顯示當(dāng)前文件名稱（例如：F02）和當(dāng)前文件中的記錄總數(shù)。
2） 按 鍵及 鍵改變當(dāng)前文件。
3） 按 鍵結(jié)束操作。
存儲厚度值時，如果當(dāng)前文件中的記錄總數(shù)已經(jīng)達到50個，則儀器會自動取消本次存儲操作，并且屏幕會顯示“FULL”提示信息。
3.4.2清空文件
如果要清空某個文件中的所有已存儲內(nèi)容，則需要按照下述步驟進行：
1） 在厚度測量狀態(tài)下，按 鍵，屏幕顯示當(dāng)前文件名稱和當(dāng)前文件中的記錄總數(shù)。
2） 按 鍵及 鍵選擇要清空的文件名稱。
3） 按 鍵清空選定的文件。屏幕同時顯示“-dEL”提示信息。
4） 按 鍵結(jié)束操作。
3.4.3查看/刪除存儲記錄
儀器中存儲的厚度值可以調(diào)出查看，也可以刪除某個厚度記錄。操作方法如下：
1） 在厚度測量狀態(tài)下，按 鍵，屏幕顯示當(dāng)前文件名稱和當(dāng)前文件中的記錄總數(shù)。
2） 按 鍵及 鍵選擇要查看的記錄所在的文件名稱。
3） 按 鍵進入選定的文件。屏幕顯示出該文件中的當(dāng)前記錄編號（如：L012），以及該記錄的內(nèi)容。
4） 按 鍵及 鍵選擇要查看的記錄編號，該記錄的內(nèi)容和記錄編號交替顯示在屏幕上。
5） 按 鍵刪除該記錄。屏幕同時顯示“-dEL”提示信息。
6） 按 鍵結(jié)束操作。
3.5改變單位制式
該儀器可以公制（μm）或者英制（mil）顯示厚度值。在測量過程中，按 鍵可以改變單位制式，在公制和英制之間進行轉(zhuǎn)換。
3.6背光功能
儀器液晶屏帶有EL背光功能，以便在光線昏暗處可以閱讀測量值。由于背光打開后，儀器功耗明顯增加，所以請在必要的時候才打開背光，以節(jié)約用電，延長電池使用時間。
按鍵可以打開或者關(guān)閉背光。
3.7電池電量指示
儀器主機內(nèi)裝有串聯(lián)連接的2節(jié)AA尺寸（5號）堿性電池。電池電量充足時，電量指示符號滿格顯示；電池用過一段時間后，電池符號會顯示為非滿格；電池接近用完時，電池符號會閃動顯示 ，此時應(yīng)該立即更換電池。
3.8自動關(guān)機
l 儀器具有自動關(guān)機功能，以節(jié)省電池電能。
l 如果在5分鐘內(nèi)既沒有測量，也沒有任何按鍵操作，儀器會自動關(guān)機，在關(guān)機前液晶屏幕會閃爍顯示20秒，這時按除鍵外的任意鍵，或者進行一次測量操作，都可以使液晶屏幕停止閃動并停止關(guān)機操作。
l 當(dāng)電池電壓過低時，儀器會自動關(guān)機。
3.9恢復(fù)出廠設(shè)置
開機時，按住 鍵的同時按下鍵，儀器的所有測量參數(shù)、零點校準(zhǔn)和兩點校準(zhǔn)數(shù)據(jù)將恢復(fù)到出廠狀態(tài)；儀器內(nèi)部存儲的測量數(shù)據(jù)（F1~F19）也將同時被清空。
3.10與PC機通訊
將USB線纜的一端插入儀器的USB通信插座中,將另一端插頭插入計算機的USB口中。在PC機上運行DataPro數(shù)據(jù)管理軟件，按照DataPro 數(shù)據(jù)管理軟件操作手冊的指引，可以對儀器內(nèi)存儲的數(shù)據(jù)下載到PC機中，并可以進行后續(xù)的數(shù)據(jù)處理、保存、打印等操作。
3.11 提示信息對照表
| 顯示編碼 | 解釋 | 顯示編碼 | 解釋 |
| E00 | 電池電量即將耗盡 | E09 | 測值無效 |
| E02 | 測頭損壞 | -Prb | 測頭信息無法讀取 |
| E03 | 測頭損壞 | Prb0 | 提示進行零點校準(zhǔn) |
| E05 | 開機時測頭距離基體太近 | | |
| E06 | 測值異常 | | |
4 儀器校準(zhǔn)
為使測量準(zhǔn)確，應(yīng)在測量場所對儀器進行校準(zhǔn)。
4.1 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片,簡稱標(biāo)準(zhǔn)片。
校準(zhǔn)箔。對于磁性方法，“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法，通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準(zhǔn)，而且比用有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片更合適。
有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片。采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對于磁性方法，覆蓋層必須是非磁性的。對于渦流方法，覆蓋層必須是非導(dǎo)電的。
4.2 基體
為減小校準(zhǔn)誤差，對于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似；對于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與待測試件基體金屬的電性質(zhì)相似。待測試件的金屬基體厚度，要滿足附錄1中所規(guī)定的臨界厚度。
可采用下面兩種方法進行校準(zhǔn)：
u 在與待測工件的金屬基體厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)；
u 用一足夠厚度的、電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件，注意必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
如果待測覆蓋層的曲率很大，則選擇有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片時，其曲率應(yīng)與待測試件的曲率相同。
4.3 校準(zhǔn)方法
本儀器有三種校準(zhǔn)方法: 零點校準(zhǔn)、兩點校準(zhǔn)，還有一種針對測頭的基本校準(zhǔn)。
在溫度變化極大的情況下，如冬季或盛夏在室外操作時，應(yīng)在與待測箔厚度接近的標(biāo)準(zhǔn)片上進行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)時的環(huán)境溫度應(yīng)與使用時的環(huán)境溫度一致。
4.3.1零點校準(zhǔn)
在每次開機后、更換測頭、更換電池、環(huán)境溫度變化較大或者測量出現(xiàn)偏差時應(yīng)對測頭進行零點校準(zhǔn)。此步驟對保證測量準(zhǔn)確度十分關(guān)鍵。如有必要，可重復(fù)多次。步驟如下：
1） 在基體上進行一次測量，屏幕顯示<X.Xμm >；然后提起測頭。
2） 按 鍵，屏幕顯示<0.0μm >。
3） 重復(fù)上述1）、2）步驟可獲得更為精確的零點，提高測量精度。零點校準(zhǔn)完成后就可進行測量了。
4.3.2二點校準(zhǔn)
兩點校準(zhǔn)法又分一試片法和二試片法。
4.3.2.1 一試片法
這一校準(zhǔn)法適用于高精度測量及小工件、淬火鋼、合金鋼。
1） 先校零點（如上述）。
2） 在厚度接近于待測覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進行一次測量，屏幕顯示＜×××µm＞。
3） 按鍵進入二點校準(zhǔn)狀態(tài)，屏幕上的“CAL”標(biāo)識開始閃動。
4） 用鍵修正讀數(shù)，使其達到標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)稱值。
5） 連續(xù)按兩次鍵。“CAL”標(biāo)識消失。
校準(zhǔn)已完成，可以開始測量了。
注意:用F5 和 F10 測頭，測量金屬鍍層時，應(yīng)使用兩點校準(zhǔn)法校準(zhǔn)。
4.3.2.2 二試片法
根據(jù)待測覆蓋層厚度選擇兩個標(biāo)準(zhǔn)片，待測覆蓋層厚度應(yīng)該在兩個標(biāo)準(zhǔn)片的厚度值之間。這種方法尤其適用于粗糙的噴沙表面和高精度測量。
1） 先校零值。
2） 在較薄的標(biāo)準(zhǔn)片上進行一次測量。
3） 按鍵進入二點校準(zhǔn)狀態(tài)，屏幕上的“CAL”標(biāo)識開始閃動。
4） 用鍵修正讀數(shù)，使其達到較薄標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱值。
5） 按 鍵，然后在較厚的標(biāo)準(zhǔn)片上進行一次測量。
6） 用鍵修正讀數(shù)，使其達到較厚標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱值。
7） 按鍵。“CAL”標(biāo)識消失。
校準(zhǔn)已完成，可以開始測量了。
4.3.2.3 在噴沙表面上校準(zhǔn)
噴沙表面的特性容易導(dǎo)致測量值大大偏離真實值，其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定。
方法一：
1） 儀器要用4.3.1或4.3.2.1的方法在曲率半徑、基材相同的平滑表面上校準(zhǔn)好。
2） 在未涂覆的、經(jīng)過相同噴沙處理的表面上測量10次左右，得到厚度平均值Mo。
3） 然后，在已涂覆的表面上測量10次得到測量平均值Mm。
4） （Mm—Mo）±S即是覆蓋層厚度。其中S（標(biāo)準(zhǔn)偏差）是SMm和SMo中較大的一個。
方法二：
1） 先用兩試片法校準(zhǔn)儀器。
2） 在試樣上測量5～10次，測量值的平均值即是覆層厚度。
4.3.2.4 銅上鍍鉻層的校準(zhǔn)方法
適用于N400、N1和N1/90°測頭，并使用特殊的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。
u 必須使用一試片法。
u 使用標(biāo)有“銅上鍍鉻” （CHROME ON COPPER） 字樣的特殊標(biāo)準(zhǔn)片。
4.3.3測頭基本校準(zhǔn)
在測量中，如果測量誤差明顯地超出給定范圍，則應(yīng)對測頭重新進行校準(zhǔn)。通過輸入 5組校準(zhǔn)值，可重新校準(zhǔn)測頭，這一操作過程稱為基本校準(zhǔn)。
儀器出廠時，每一個測頭都已經(jīng)過基本校準(zhǔn)�；拘�(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲于測頭內(nèi)部的芯片中。開機時，儀器會自動讀取測頭的基本校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，并在測量過程中自動校正測量結(jié)果。用戶一般無須進行基本校準(zhǔn)。但當(dāng)測頭頂端磨損嚴(yán)重，導(dǎo)致測量誤差明顯地超出給定范圍時，有必要進行基本校準(zhǔn)。
操作方法為：
1） 在儀器關(guān)閉的狀態(tài)下，按住 鍵再按 鍵，直到一聲長鳴，屏幕上閃爍顯示校準(zhǔn)標(biāo)識”CAL”，即進入基本校準(zhǔn)狀態(tài)；
2） 先校零點�？芍貜�(fù)進行多次，以提高校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性；
3） 在*薄的標(biāo)準(zhǔn)片上進行測量，用鍵修正讀數(shù)，使其達到此標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱值。然后按鍵，進入下一個標(biāo)準(zhǔn)片的測量校準(zhǔn)。
4） 使用其它4個標(biāo)準(zhǔn)片，按厚度增加的順序，依次重復(fù)上一步驟。每個厚度應(yīng)至少是上一個厚度的1.2 倍以上，理想的情況是2倍。例如: 50、100、200、400、800μm。值應(yīng)該接近但低于測頭的測量范圍；
注意: 每個厚度應(yīng)至少是上一個厚度的1.2 倍以上，否則視為基本校準(zhǔn)失敗。
5） 在輸入5個校準(zhǔn)值以后，儀器自動關(guān)閉，新的校準(zhǔn)值已存入測頭上的存儲器中。當(dāng)再次開機時，儀器將按新的校準(zhǔn)值工作。
5維護及注意事項
5.1一般注意事項
l 應(yīng)避免儀器及測頭受到強烈震動；
l 避免儀器置于過于潮濕的環(huán)境中；
l 插拔測頭時，應(yīng)捏住活動外套沿軸線用力，不可旋轉(zhuǎn)測頭，以免損壞測頭電纜芯線。
l 油、灰塵的附著會使測頭線逐漸老化、斷裂，使用后應(yīng)清除纜線上的污垢。
5.2電池檢查
電池容量接近用完時，應(yīng)該及時更換電池，以免影響測量精度。儀器長時間不使用時應(yīng)將電池取出，以免電池漏液，腐蝕儀器盒與電極片。
注意電池安裝時的正負(fù)極性！極性顛倒可能導(dǎo)致儀器損壞！
5.3校零基體的維護
校零基體的表面狀況對于測頭校零影響較大，所以請注意保護校零基體以防止表面劃傷、生銹。
5.4機殼的清潔
酒精、稀釋液等對機殼尤其是視窗有腐蝕作用，故清洗時，用少量清水輕輕擦拭即可。
5.5儀器維修
當(dāng)儀器出現(xiàn)非正常現(xiàn)象（如儀器損壞，不能測量；液晶顯示異常；誤差過大；鍵盤操作失靈或混亂等）時，請不要拆卸或調(diào)節(jié)任何固定裝配之零部件，請交給我公司維修部門檢測、維修。
附錄
附錄1 測頭參數(shù)表
| 測頭型號 | F400 | F1 | F1/90° | F5 | F10 | |||
| 工作原理 | 磁 感 應(yīng) | |||||||
| 測量范圍（mm） | 0～400 | 0～1250 | 0～5000 | 0～10000 | ||||
| 低限分辨力（mm） | 0.1 | 0.1 | 1 | 10 | ||||
| 示值 誤差 | 一點校準(zhǔn)（mm） | ±（3%H+1） | ±（3%H+5） | ±（3%H+10） | ||||
| 二點校準(zhǔn)（mm） | ±（（1～3）%H+0.7） | ±（（1～3）%H+1） | ±（（1～3）%H+5） | ±（（1～3）%H+10） | ||||
| 測 試 條 件 | *小曲率半徑（mm） | 凸 | 1 | 1.5 | 平直 | 5 | 10 | |
| *小面積的直徑（mm） | F3 | F7 | F7 | F20 | F40 | |||
| 基體臨界厚度（mm） | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 1 | 2 | |||
| 測頭型號 | N400 | N1 | N1/90° | CN02 | N10 | |||||
| 工作原理 | 渦 流 | |||||||||
| 測量范圍（mm） | | 0～1250 | 10～200 | 0～10000 | ||||||
| 低限分辨力（mm） | 0.1 | 0.1 | 1 | 10 | ||||||
| 示值誤差 | 一點校準(zhǔn)（mm） | ±（3%H+0.7） | ±（3%H+1.5） | ±（3%H+1） | ±（3%H+25） | |||||
| 二點校準(zhǔn)（mm） | ±[（1～3%H+0.7） | ±[（1～3）%H+1.5] | ___ | ±（（1～3）%H+25） | ||||||
| 測 試 條 件 | *小曲率半徑（mm） | 凸 | 1.5 | 3 | 平直 | 僅為平直 | 25 | |||
| *小面積的直徑（mm） | F4 | F5 | F5 | F7 | F50 | |||||
| 基體臨界厚度（mm） | 0.3 | 0.3 | 0.3 | 無限制 | 50mm鋁箔 | |||||
注：H—涂層厚度標(biāo)稱值
附錄2 測頭選擇導(dǎo)引
| 覆蓋層 基體 | 有機材料等非磁性覆蓋層（如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、 塑料和陽極化處理等） | | |||||
| 覆蓋層厚度不超過100mm | 覆蓋層厚度超過100mm | | |||||
| 如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測面積的直徑 大于30mm | F400型測頭 0～400mm F1型測頭 0～1250mm | F1型測頭 0～1250mm F5型測頭 0～5mm F10型測頭 0～10mm | | |||
| 被測面積的直徑 小于30mm | F400型測頭 0～400mm | F1型測頭 0～1250mm F400型測頭 0～400mm | | ||||
| 如銅、鋁、黃銅、鋅、錫 等 有色金屬 | 被測面積的直徑 大于10mm | N400型測頭 0～400mm | N400型測頭 0～400mm N10型測頭 0～10mm | | |||
| 被測面積的直徑 小于10mm | N400型測頭 0～400mm | N1型測頭 0～1250mm N400型測頭 0～400mm | | ||||
| 覆蓋層 基體 | 非磁性的有色金屬覆蓋層（如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等） | ||||||
| 覆蓋層厚度不超過100mm | 覆蓋層厚度超過100mm | ||||||
| 如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測面積的直徑 大于30mm | F400型測頭 0～400mm | F400型測頭 0～400mm F1型測頭 0～1250mm F5型測頭 0～5mm F10型測頭 0～10mmm | ||||
| 被測面積的直徑 小于30mm | F400型測頭 0～400mm F1型測頭 0～1250mm | F400型測頭 0～400µm F1型測頭 0～1250mm | |||||
| 如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等 有色金屬 | 被測面積的直徑 大于10mm | 僅用于銅上鍍鉻 N400型測頭 0～40mm | －－－－－－－－ | ||||
| 被測面積的直徑 小于10mm | －－－－－－－－ | －－－－－－－－ | |||||
| 塑料、印刷線路非金屬基體 | 被測面積大 | CN200型測頭10～200mm | CN200型測頭10～200mm | ||||
附錄3 影響測量精度的因素
3.1 影響因素相關(guān)表
| 影響因素 | 磁性方法 | 渦流方法 |
| 基體金屬磁性質(zhì) | ▲ | |
| 基體金屬電性質(zhì) | | ▲ |
| 基體金屬厚度 | ▲ | ▲ |
| 邊緣效應(yīng) | ▲ | ▲ |
| 曲率 | ▲ | ▲ |
| 試樣的變形 | ▲ | ▲ |
| 表面粗糙度 | ▲ | ▲ |
| 磁場 | ▲ | |
| 附著物質(zhì) | ▲ | ▲ |
| 測頭壓力 | ▲ | ▲ |
| 測頭取向 | ▲ | ▲ |
▲ －－－－－－ 表示有影響
3.2 影響因素說明
基體金屬磁性質(zhì)。磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進行校準(zhǔn)。
基體金屬電性質(zhì)。基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn)。
基體金屬厚度。每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
邊緣效應(yīng)。本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。
曲率。試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
試件的變形。測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上不能測出可靠的數(shù)據(jù)。
表面粗糙度。基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
磁場。周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
附著物質(zhì)。本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
測頭壓力。測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
測頭的取向。測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。
3.3 使用儀器時應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定
基體金屬特性。對于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
基體金屬厚度。檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可根據(jù)本手冊中講解的方法進行校準(zhǔn)。
邊緣效應(yīng)。不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。
曲率。不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。
讀數(shù)次數(shù)。通常由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，表面粗造時更應(yīng)如此。
表面清潔度。測量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
用 戶 須 知
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