產(chǎn)品展示
集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)
點擊次數(shù)：57發(fā)布時間：2014/7/29 16:52:24
更新日期：2014/9/1 8:34:30
所 在 地：中國大陸
產(chǎn)品型號：nc100
相關(guān)標(biāo)簽：集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細內(nèi)容
| 集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 產(chǎn)品詳情 符合標(biāo)準(zhǔn)：GJB548（等同MIL-STD-883）、GJB 597（等同MIL-M-38510） 適用范圍： 適用于對各種數(shù)字、模擬、數(shù)�；旌霞呻娐泛蚐OC電路、微處理器、存儲器等微電子電路進行高溫動態(tài)老化試驗。 工作特性: ● 一板一區(qū)工作方式，*多可同時進行16種規(guī)格、批次的器件進行篩選試驗，適應(yīng)多品種、小批量。 ● 超溫報警裝置，確保溫度條件安全施加。 ● 可檢測各組電源工作情況及試驗箱溫度并描繪其與時間相關(guān)的曲線。 ● 軟件全編輯信號產(chǎn)生方式，可滿足包括存儲器在內(nèi)的多種集成電路器件的動態(tài)老化要求。 ● 集成的用戶軟件包基于WINDOWS平臺開發(fā)，功能完備并有良好的可擴展性。 ● 主從式RS485全雙工高速串行通訊接口，遠距離通訊能力強，數(shù)據(jù)傳輸安全可靠。 ● 試驗容量和系統(tǒng)分區(qū)可根據(jù)實際情況另行配置。 ● 試驗箱可選擇兩個小型試驗箱，每個試驗箱裝8塊老化板，可同時進行兩個溫度條件的試驗。 ● 可提供專用調(diào)式臺，具備獨立的DUT試運行接口和維修接口，方便試驗前或試驗中對DUT和老化板進行試驗狀態(tài)檢查。 電子電路進行高溫動態(tài)老化試驗。 技術(shù)性能：
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