SunScan 冠層分析系統(tǒng)

用途：
通過測量作物冠層PAR值提供了關于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。

原理：
根據(jù)冠層吸收的Beer法則、Wood的SunScan冠層分析方程以及Campbell的橢圓葉面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子傳感器來測量、計算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數(shù)。

組成：
SS1探頭：一支1米長，內(nèi)嵌64個光合有效輻射傳感器
SunData軟件：用來對測量參數(shù)進行分析處理
BF3傳感器：可計算出作物冠層的PAR以及直射光與漫射光的比例關系。減少太陽變化對測量造成的影響。
三角架：用來安放BF3
數(shù)據(jù)采集終端：采集和分析讀數(shù)。

參數(shù)：
探測器工作區(qū)域：1000×13mm寬，傳感器間距15.6mm
探測器光譜響應：400 ~ 700nm (PAR)；
探測器測量時間：120ms；
探測器分辨率：0.3μmol. m-2.s-1；
探測器讀數(shù)：2500μmol.m-2.s-1
操作溫度：0 ~ 60℃；
內(nèi)存：2M內(nèi)存，包含程序；1600K RAM 可用于儲存數(shù)據(jù)；

產(chǎn)地： 英國