產(chǎn)品展示

X-射線熒光鍍層測厚及材料元素分析儀

點(diǎn)擊次數(shù)：969發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00

更新日期：1900/1/1 0:00:00

所在地：德國

產(chǎn)品型號：

簡單介紹：HELMUT FISCHER鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的精確處理和使用了*新的軟件和硬件技術(shù)，F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其獨(dú)特的特點(diǎn)。

相關(guān)標(biāo)簽：FISCHERSCOPE X-射線熒光鍍層測厚及材料元素分析儀

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細(xì)內(nèi)容

HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的精確處理和使用了*新的軟件和硬件技術(shù)，F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其獨(dú)特的特點(diǎn)。

的WinFTM^®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測量精度的情況下測量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時(shí)可以對包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析（使用WinFTM^® V.6軟件）

典型的應(yīng)用范圍如下：

單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
*多24種鍍層（使用WinFTM^® V.6軟件）。
分析多達(dá)4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。

所有的設(shè)備遵循ASTM B568， DIN 60 987和 ISO 3497等國家和標(biāo)準(zhǔn)。

型號	XUL(M)	XDL-B	XDLM-C4	XDVM-W	XDVM-µ
測量方向	從下往上	從上往下	從上往下	從上往下	從上往下
X-射線管型號 W: 鎢管 MW: 微聚焦鎢管	W 或 MW	W	MW	MW	MW
可調(diào)節(jié)的高壓 30kV; 40kV; 50kV	有	有	有	有	有
開槽的測量箱體	有	有	有	有	有
基本Ni濾波器 (可選擇)	有	有	有	有	有
接收器(Co) 可選擇的 WM-版本	有	有	有
數(shù)準(zhǔn)器數(shù)目	W-類型: 1 WM-類型: 4	1	4	4	1
z-軸	無	無，或電機(jī)驅(qū)動或可編程的	電機(jī)驅(qū)動的或可編程的	可編程的	可編程的
測量臺類型	固定臺面或可選的手動XY工作臺	固定臺面或手動XY工作臺或可編程的XY工作臺	手動XY工作臺或可編程的XY工作臺	可編程的XY工作臺	可編程的XY工作臺
測試點(diǎn)的放大倍率	38 - 184 x	20 - 180 x	20 - 180 x	40 - 568 x	30 - 1108 x
DCM方法 (距離控制測量)	有	有	有
WinFTM^® 版本	V.3 標(biāo)準(zhǔn) V.6 可選擇	V.3 標(biāo)準(zhǔn) V.6 可選擇	V.3 標(biāo)準(zhǔn) V.6 可選擇	V.3 標(biāo)準(zhǔn) V.6 可選擇	V.6 標(biāo)準(zhǔn)
操作系統(tǒng)： Windows XP prof.	有	有	有	有	有