產品展示
測量(微調)平臺
點擊次數(shù)：471發(fā)布時間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：上海宇策
產品型號：TA610\620\630\631
優(yōu)質供應
詳細內容
產品簡介: TA610測量平臺，齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來測量不容易放置的工件，可提高測量精度。TA620測量平臺，絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測量形狀較小的工件，可提高測量平臺。 TA630微調平臺，X—Y平面轉角，俯仰角。 TA631微調平臺，X—Y平面轉角。 TA630、631都用來較小幅度的，粗確調整被測量工件的位置，提高測量精度。 |
主要特點: TA610測量平臺，齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來測量不容易放置的工件，可提高測量精度。TA620測量平臺，絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測量形狀較小的工件，可提高測量平臺。 TA630微調平臺，X—Y平面轉角，俯仰角。 TA631微調平臺，X—Y平面轉角。 TA630、631都用來較小幅度的，粗確調整被測量工件的位置，提高測量精度。 |
