簡 介
這款機型除了擁有AFM-II型原子力顯微鏡的全部功能以外，主要增加了AFM側向力/輕敲掃描模式(Tapping Mode)，特別適用于檢測生物樣品及其它柔軟、易碎、粘附性較強的樣品。具有STM恒流模式/恒高模式形貌檢測， I-V曲線測量， I-Z曲線測量，針尖修飾功能。AFM接觸/非接觸/側向力/輕敲掃描模式形貌檢測功能，劃移掃描，F(xiàn)-Z曲線測量功能。并使用了智能針尖連接技術，使各種工作模式之間的轉換只需替換相應的針尖架，不必替換整個探頭，軟件能夠自動識別當前針尖類型，并自動切換到相應的工作模式。操作非常方便。
用戶還能根據(jù)不同的科研要求，選擇3μm-100μm不同范圍的掃描器，以及高分辨CCD觀測系統(tǒng)和高精度樣品X-Y移動平臺，使操作更加方便、精確。
同我們所有MicroNano 系列產(chǎn)品一樣，這款機型還可以根據(jù)用戶需要，選購相應的功能模塊，將功能擴展至磁力顯微鏡模式。
技 術 指 標
¨掃描模式：STM恒流/恒高模式掃描/ I-V曲線測量/I-Z曲線測量/針尖修飾（脈沖）
AFM接觸/非接觸/側向力/輕敲模式形貌/劃移掃描/F-Z曲線
¨樣品尺寸：≤Φ10mm
¨樣品厚度：≤5mm
¨掃描范圍：標準配置6μm×6μm
¨分辨率：STM（X-Y向0.1nm；Z向0.01nm）
接觸模式AFM（X-Y向0.2nm；Z向0.03nm）
輕敲模式AFM( x,y方向0.2 nm，z方向0.1nm)
¨XYZ控制：雙12-bit D/A（相當于20位精度）
¨數(shù)據(jù)采樣：雙12-bit A/D （相當于20位精度）
¨掃描速率：20000 P/S
¨掃描角度：0~360°
¨圖像采樣點：256×256 / 512×512
¨馬達控制：線動螺紋+自動馬達，行程〈10mm，精度〈0.1μm
¨計算機接口：標準并行口
¨配套功能強大的MicroNano SPM 2.1軟件系統(tǒng)
可 選 配 件 及 功 能 模 塊
¨3μm×3μm，20μm×20μm，50μm×50μm，100μm×100μm規(guī)格掃描器
¨高分辨CCD觀測系統(tǒng)
¨高精度樣品X-Y移動平臺
¨MicroNano MFM-I型磁力顯微鏡功能模塊