產(chǎn)品展示
離子污染測(cè)試儀
點(diǎn)擊次數(shù)：325發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：美國
產(chǎn)品型號(hào)：SMD600
相關(guān)標(biāo)簽：測(cè)試儀 離子污染測(cè)試儀
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
SMD600離子污染測(cè)試儀是一個(gè)功能齊全的微處理器控制儀器，采用非破壞式的測(cè)量方法，適合用于檢測(cè)印制線路板和相關(guān)部件的離子含量。根據(jù)測(cè)試液中電阻的變化來測(cè)試離子的含量。
特點(diǎn)：
微處理控制器
數(shù)據(jù)條顯示簡單方便
可存儲(chǔ)30個(gè)樣品數(shù)據(jù)
曲線圖表的打印所以測(cè)試程序
自動(dòng)停止測(cè)試
加熱測(cè)試液以增加離子溶解度
測(cè)試槽中的噴水頭增加滲透性
快速測(cè)試
測(cè)試槽的大小可選擇
英制/工制的轉(zhuǎn)換
