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產(chǎn)品展示

離子蝕刻探針-終點檢測儀

點擊次數(shù):404發(fā)布時間:2009/11/2 0:00:00

離子蝕刻探針-終點檢測儀

更新日期:1900/1/1 0:00:00

所 在 地:英國Hiden公司

產(chǎn)品型號:IMP

簡單介紹:IMP(Ions Milling Probe)是自帶差式泵的耐用的二次離子質(zhì)譜儀,獨有的專業(yè)檢測終點儀器。用于離子蝕刻控制以及優(yōu)化工藝。適用于離子刻蝕過程中的二次離子和中性粒子分析。

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細(xì)內(nèi)容

應(yīng)用:
· 終點檢測
· 靶的純度測定
· 質(zhì)量控制/SPC
· 殘余氣體分析
特點:
· 高靈敏度的SIMS/MS,帶脈沖離子計數(shù)檢測器
· 離子光學(xué)透鏡、能量分析器和離子源
· 真空規(guī)和安全互鎖裝置提供過壓保護
· 軟件MASsoft通過RS232、RS485或以太網(wǎng)控制
· 可編程的DDE,平行數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)I/O,RS232腳本通訊

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