CMI900系列X射線熒光測厚儀

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關鍵字：測厚儀，膜厚儀，涂層厚度，CMI 233測厚儀，電鍍測厚，CMI150測厚儀,X射線熒光測厚儀

品牌：OXFORD CMI(英國牛津)

簡介：

□適用范圍：CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等，涉及到其它儀器不能檢測的測試領域。

□服務優(yōu)勢：具有*多的服務網(wǎng)點和強大的技術支持

□測量精度：1%或±0.1μm依照參考標準片，分辨率：0.01mils(0.25μm)

□測量范圍：磁感應0-120mils(0-3.05mm)；渦流0-60mils(0-1.52mm)

用途：廣泛應用于噴涂電鍍等表層厚度的測量

 
 產(chǎn)品介紹 
訂購編號：20709 CMI900 / 20710 CMI950

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析�；赪indows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版SmartLink FP應用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設定�？赏瑫r測定*多5層、15種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、值、*小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。

CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀、各種尺寸的樣品；并且測量點*小可達0.025 x 0.051毫米。

CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：

● 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

● 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

● 可調(diào)高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。

● 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。

● 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。

CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：

● 全程控樣品臺：XYZ三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品高度為150mm，XY軸程控移動范圍為300mm x 300mm。此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。

● Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品高度為270mm。

● 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品高度為356mm。

可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。
 
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