產(chǎn)品展示
場發(fā)射掃描俄歇納米探針SAM
點擊次數(shù)：547發(fā)布時間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：美國
產(chǎn)品型號：
相關(guān)標(biāo)簽：
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細內(nèi)容
1.電子束徑<6nm
2.靈敏度〉700 KCPS(10KV.10nA)
3.能量分辨率<0.5%
4.信噪比〉700:1(10KV.10nA)
5.樣品臺φ25-60mm
主要特點
1.場發(fā)射電子槍
2.筒鏡分析器（CMA）和同軸電子槍，無陰影效應(yīng)
3.多道檢測器（8）
4.全自動樣品臺
儀器介紹
分析對象：無機，金屬陶瓷半導(dǎo)體材料。
獲得信息：元素信息
點線面深度剖析三維元素分布信息。
可提供SEM、AES、SAM分析。
