產(chǎn)品展示
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS)
點(diǎn)擊次數(shù)：608發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：日本
產(chǎn)品型號(hào)：
相關(guān)標(biāo)簽：離子質(zhì)譜儀 離子質(zhì)譜
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
1.空間分辨率：使用25千伏Ga脈沖離子束，使用PHI提供的監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)，空間分辨率*120 nm
2.質(zhì)量精確度: 在小于m/z = 100情況下，*2 mamu，在大于m/z = 100，<10 ppm
3.傳輸率: 40%的原子，90%的分子，數(shù)值由離子光學(xué)模擬計(jì)算得出。
主要特點(diǎn)
1.標(biāo)準(zhǔn)配置In,Ga離子槍，還可以選配Cs/O離子源和Au離子源
2.高靈敏度，高成像清晰度，無陰影效應(yīng)
3.動(dòng)態(tài)范圍寬
