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產(chǎn)品展示

表面低阻抗分析儀

點擊次數(shù):1365發(fā)布時間:2009/11/2 0:00:00

表面低阻抗分析儀

更新日期:1900/1/1 0:00:00

所 在 地:日本

產(chǎn)品型號:MCP-T360

簡單介紹:表面阻抗儀主要應用于對樣品表面涂層,表面鍍膜,表面油漆,表面貼面及電路板等形式的低阻抗測量,以確定樣品的表面是否均勻和無任何細微斷裂。

相關(guān)標簽:表面阻抗 低阻抗 

優(yōu)質(zhì)供應

詳細內(nèi)容

LORESTA-EP MCP-T360 低阻抗分析儀  

儀器介紹:

表面阻抗儀主要應用于對樣品表面涂層,表面鍍膜,表面油漆,表面貼面及電路板等形式的低阻抗測量,以確定樣品的表面是否均勻和無任何細微斷裂。

特點

  • LORESTA-EP 手持單元 可配置多種探頭測量低阻抗
  • 測量精確穩(wěn)定
  • 的 4 針探頭技術(shù)和數(shù)據(jù)存儲

阻抗計
•  手持,輕體
•  便攜式
•  大液晶顯示器使操作簡單
•  精確而穩(wěn)定的測量
MCP 探頭
•  一次接觸樣品,即可完成測量
•  內(nèi)置針,恒定針壓力
•  定內(nèi)阻和導線阻抗已經(jīng)除外
應用
導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜,抗靜電材料, EMI 防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等。

應用于低阻抗測量范圍,帶 4 針探頭 測量范圍: 10-2 ~ 106 Ω
用途
工業(yè)生產(chǎn),質(zhì)量控制,研發(fā)

技術(shù)參數(shù)

測量方法 4 針探頭,恒流方法
測量范圍 10-210-1100101102103104105106
支持電流 100mA 10mA 1mA 100 m A 10 m A 1 m A
測量精度 ± 1.0%

± 20dgt

± 1.0%

± 5dgt

± 0.5%

± 5dgt

± 0.5%

± 3dgt

± 2.0%

± 5dgt

顯示器 液晶
電源 直流 6.5V , 350mA
4 針探頭 MCP 探頭( ASP , ESP , PSP , BSP , QPP , TFP )
數(shù)據(jù)輸出 RS232C
尺寸,重量 W100 X D230 X H45 mm , 500g
標準附件 ASP 探頭 MCP-TP03P ( 4 針,內(nèi)置針長 5mm, 針尖 0.37R )

交流適配器 MCP-TA05( 直流 6.5V , 350mA 充電電池 )

可選探頭

用于非均衡樣品,內(nèi)針長 4mm ,針尖 Φ 2 ,彈簧壓力 240g/ 針 MCP-TP08P

用于小樣品,內(nèi)針長 1.5mm ,針尖 0.26R ,彈簧壓力 70g/ 針 MCP-TP06P

用于微小樣品,內(nèi)針長 1.5mm ,針尖 0.26R ,彈簧壓力 70g/ 針

MCP-TPQPP

用于長樣品,內(nèi)針長 2.2mm ,針尖 0.37R ,彈簧壓力 210g/ 針

MCP-TP05P

用于薄樣品,內(nèi)針長 1mm ,針尖 0.15R ,彈簧壓力 50g/ 針 MCP-TFP

探頭檢測器 1 W 用于 ASP , ESP 探頭, MCP

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聯(lián)系人:臧旭

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