產(chǎn)品展示
電子散斑干涉（ESPI）實驗裝置
點擊次數(shù)：1031發(fā)布時間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：2009/7/14 8:24:22
所 在 地：天津市拓普儀器有限公司
產(chǎn)品型號：WSG-1型
相關(guān)標(biāo)簽：電子散斑干涉（ESPI）實驗裝置 電子散斑干涉
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
本實驗裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。本實驗是用激光光束直接照射到測試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測定其離面位移的新型，的測試技術(shù)。本實驗裝置可以使學(xué)生了解其原理和測量的方法。
儀器特點：自己調(diào)節(jié)光路，可提高動手能力；
采用了*新處理光學(xué)信息的CCD測量技術(shù)
計算機處理圖象，軟件操作簡便
可利用軟件畫出測試表面受力變形后的三維立體圖。
成套性：CCD攝像頭、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調(diào)節(jié)桿、光學(xué)零件、被測樣品。
