產(chǎn)品展示
X-射線能譜儀
點擊次數(shù)：697發(fā)布時間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：美國EDAX Inc.
產(chǎn)品型號：GENESIS
相關(guān)標(biāo)簽：
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
1.探頭分辨率優(yōu)于129eV,峰背比優(yōu)于20000:1
2.檢測元素范圍Be4 - U92
3.計數(shù)率500,000cps
4.圖象采集分辨率8192x6400象素
5.面分布圖采集分辨率2048x1600象素
主要特點
1.探頭指標(biāo)高，性能好，壽命長。
2.全新32位軟硬件系統(tǒng)，工作可靠，效率高。
3.具有操作引導(dǎo)的集成式界面，使用直觀方便。
4.具有多種專有技術(shù)軟件，分析精度高。
5.軟件種類及功能豐富，且具有報告生成系統(tǒng)。
儀器介紹
GENESIS能譜儀是高性能能譜儀的代表，其秉承了EDAX公司PHOENIX能譜儀指標(biāo)高、性能好、壽命長，使用方便的特點，并更上一層樓。EDAX能譜儀已廣泛應(yīng)用于國內(nèi)外各種型號的掃描電鏡和透射電鏡，并且可以同EDAX公司的OIM（電子背散射衍射取向成像分析系統(tǒng)）和ACT（自動晶體學(xué)分析系統(tǒng)）構(gòu)成一體化分析系統(tǒng)。
