X’Pert PRO X射線衍射儀是全新概念的預(yù)校準(zhǔn)光路全模塊化的X射線衍射儀可實(shí)現(xiàn)多種功能應(yīng)用。不同光路系統(tǒng)及各種樣品臺(tái)等附件均可以在幾分鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度的更換。測(cè)角儀由于采用DOPS直接光學(xué)編碼器，直流馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，完全消除機(jī)械誤差，精度與穩(wěn)定性大大提高。配備多種新型光路及樣品臺(tái)模塊：入射光有可編程發(fā)散狹縫、Mirror鏡(平行光)、Lens鏡（多毛細(xì)管透鏡）、Monocapillary(單毛細(xì)管透鏡）、 Hybird ( 平行光單色器）提高光源的利用效率；衍射光路有可編程防反射狹縫、可編程接收狹縫、X’celerator 探測(cè)器（新型高效能探測(cè)器〕、固體探測(cè)器、位敏探測(cè)器可選；樣品臺(tái)有微區(qū)、非環(huán)境、毛細(xì)管旋轉(zhuǎn)等樣品臺(tái)。通過(guò)配置不同的光學(xué)模塊和樣品臺(tái)，可滿足由普通相分析到薄膜測(cè)定，高分辨分析，微區(qū)測(cè)定，應(yīng)力，織構(gòu)，非環(huán)境下動(dòng)態(tài)研究，微量相測(cè)定等不同領(lǐng)域要求。
根據(jù)Benson Hart小角相機(jī)設(shè)計(jì)的小角散射附件使廣角衍射儀可以實(shí)現(xiàn)納米材料的粒度測(cè)定，符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)納米粉末粒度分布的測(cè)定X射線小角散射法 （GB/T 13221-2004）和ISO/TS 13762:2001 速度快重現(xiàn)性好。 
X"Celerator超能探測(cè)器為帕納科公司*新產(chǎn)品，獲2001年世界*佳100項(xiàng)R&D發(fā)明獎(jiǎng)。可使探測(cè)器的接收效率或接收強(qiáng)度提高100倍，靈敏度提高10倍。全球銷量已達(dá)千套。