產(chǎn)品展示

高分辯衍射儀（XPert Pro MRD）

點(diǎn)擊次數(shù)：557發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00

更新日期：1900/1/1 0:00:00

所在地：荷蘭

產(chǎn)品型號(hào)：

簡(jiǎn)單介紹：帕納科的 X”Pert PRO材料研究衍射系統(tǒng)是X射線衍射研究*靈活的系統(tǒng)，用于： · 高級(jí)材料科學(xué)和納米技術(shù) · 半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程的計(jì)量

相關(guān)標(biāo)簽：

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細(xì)內(nèi)容

主要特點(diǎn)

促進(jìn)直徑達(dá)到 300 mm晶片的分析，并有精密的自動(dòng)晶片裝載選擇，X"Pert PRO MRD XL成為薄膜生產(chǎn)發(fā)展的的分析手段。

儀器介紹

帕納科的 X"Pert PRO材料研究衍射系統(tǒng)是X射線衍射研究*靈活的系統(tǒng)，用于：

·  高級(jí)材料科學(xué)和納米技術(shù)
·  半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程的計(jì)量

可以適用各種應(yīng)用，尤其適合薄膜分析，例如：

·  振動(dòng)曲線分析和交互空間圖
·  反射儀和薄膜相分析
·  殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析

同已經(jīng)證明的標(biāo)準(zhǔn)版本系統(tǒng)一樣，還有許多專門的版本：

· X"Pert PRO MRD平面衍射系統(tǒng)，可以測(cè)量與樣品表面垂直的晶格衍射
· X"Pert PRO Extended MRD 允許裝備 X射線鏡像和在線高分辨單色器，增強(qiáng)入射光束的強(qiáng)度。
· X"Pert PRO MRD XL 滿足半導(dǎo)體，薄膜和高級(jí)工業(yè)材料的所有高分辨XRD分析需要。