產(chǎn)品展示
X射線熒光光譜儀
點(diǎn)擊次數(shù):1468發(fā)布時(shí)間:2009/11/2 0:00:00

更新日期:2009/7/20 15:02:52
所 在 地:日本HORIBA公司(堀場(chǎng))
產(chǎn)品型號(hào):XGT-5000WR/5700WR
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
在保留XGT-1000WRX射線熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)的基礎(chǔ)上,Horiba又推出專用于微區(qū)分析的X熒光分析儀。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技術(shù),可將X射線聚集成全世界*小的10µm射線束,點(diǎn)分析的強(qiáng)度相當(dāng)于SEM-EDX,是同類產(chǎn)品的20倍。不但可以對(duì)樣品的表面進(jìn)行形貌掃描,也可對(duì)樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)透視掃描,甚至還可以實(shí)現(xiàn)元素掃描。
該X射線熒光光譜儀體現(xiàn)了劃時(shí)代的顯微技術(shù)與功能強(qiáng)大的元素分析和結(jié)構(gòu)分析技術(shù)的完美結(jié)合,目前已經(jīng)在全球電子企業(yè)中取得了驕人業(yè)績(jī)。
X射線熒光光譜儀技術(shù)參數(shù):
★ 10μm的世界分辨率分析
★ 樣品尺寸350mm×400mm×40mm
★ 可以進(jìn)行光學(xué)掃描分析
★ 可以進(jìn)行元素掃描分析
★ 可以進(jìn)行結(jié)構(gòu)透視分析
★ *多可99個(gè)點(diǎn)的多點(diǎn)分析
★ 可以進(jìn)行線性分析
★ 數(shù)據(jù)可輕松導(dǎo)出