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“一種畸變測(cè)試儀”獲國(guó)家發(fā)明專利授權(quán)
近日,中科院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所“一種畸變測(cè)試儀”獲得國(guó)家發(fā)明授權(quán),號(hào)“ZL200810151034.5”
任何光學(xué)系統(tǒng)都難以做到完善成像的要求,只是像差的大小不同而已。光學(xué)系統(tǒng)存在畸變將直接影響成像目標(biāo)的幾何位置精度。因此,對(duì)于精密測(cè)量相機(jī),如航空測(cè)量相機(jī)等,畸變的大小對(duì)相機(jī)測(cè)量精度具有決定性的因素。為了得到準(zhǔn)確的幾何位置圖像,相機(jī)在進(jìn)行光學(xué)設(shè)計(jì)時(shí)不僅要盡可能對(duì)畸變進(jìn)行校正,而且要對(duì)實(shí)際光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行精密的畸變量測(cè)定,以便提供在使用中的修正值。
目前國(guó)內(nèi)檢測(cè)畸變的方法都采用目標(biāo)圖案板測(cè)量畸變,即在被測(cè)光學(xué)系統(tǒng)像面處安裝標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)版,并將光學(xué)系統(tǒng)固定在精密轉(zhuǎn)臺(tái)回轉(zhuǎn)中心,在被測(cè)光學(xué)系統(tǒng)物方用望遠(yuǎn)鏡觀察網(wǎng)絡(luò)版經(jīng)鏡頭所成的像,并用轉(zhuǎn)臺(tái)記錄每個(gè)像高對(duì)應(yīng)的角度。根據(jù)望遠(yuǎn)鏡測(cè)出的像高及轉(zhuǎn)臺(tái)記錄的角度值,計(jì)算被測(cè)光學(xué)系統(tǒng)畸變。但這種方法存在測(cè)量精度低,安裝調(diào)試工作復(fù)雜、結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定、測(cè)試效率低,對(duì)被測(cè)系統(tǒng)工作波段要求較高,測(cè)試數(shù)據(jù)記錄費(fèi)時(shí)費(fèi)力等缺點(diǎn)。
西安光機(jī)所研制發(fā)明的“一種畸變測(cè)試儀”包括轉(zhuǎn)臺(tái)、光源以及顯微成像系統(tǒng)。所述光源以及顯微成像系統(tǒng)處于同于光軸上并置于轉(zhuǎn)臺(tái)兩側(cè)。該測(cè)試儀提供了一種測(cè)量精度高、效率高、結(jié)構(gòu)穩(wěn)定且功能可以擴(kuò)展的畸變測(cè)試儀,可以解決上述技術(shù)問(wèn)題。