更新日期：1900/1/1 0:00:00

所 在 地：中國

產品型號：1型

簡單介紹：掃描電聲顯微鏡（SEAM)可用于金屬和陶瓷材料的應力分析，半導體材料和電子元器件的位錯和界面缺陷顯示，信息功能材料的電疇、磁疇及其隨外場變化的動態(tài)行為觀察，多晶材料（薄膜、涂層）晶粒、晶界以及內部缺陷的檢測。此系統有力地增強和擴展了普通掃描電鏡的功能，可方便地裝備在其它類型的掃描電鏡上，是把電子顯微術和聲學顯微術集成為一體的一種新型的顯微成像方法，具有電子顯微術高分辨率和聲學顯微術內部成像的特點。