OPTOPLEX適用干真空鍍層車間的測量及分析系統(tǒng)，它適用干真空器內，是無接觸、無破壞的光譜測量系統(tǒng)，傳送顏色數(shù)據(jù)，結果都適用干品質的認證及生產過程的優(yōu)化分析。

OPTOPLEX適用干真空鍍層車間的測量及分析系統(tǒng)，它適用干真空器內，是無接觸、無破壞的光譜測量系統(tǒng)，傳送顏色數(shù)據(jù)，結果都適用干品質的認證及生產過程的優(yōu)化分析。OPTOPLEX II P 是專為真空的傳送數(shù)據(jù)而設計的，適用於建筑玻璃、汽車車頭（擋風）玻璃、顯示器玻璃、亞加力玻璃膠片或塑膠薄膜等工業(yè)。系統(tǒng)分別可作單或雙鍍層的膜厚。

由於系統(tǒng)於鍍層生產線上自動收集及傳送測量數(shù)值，然後顯示其電腦圖表及數(shù)值，系統(tǒng)適合真空房內的玻璃鍍層的品質管理。軟件包含光譜顯示、一個或多光譜趨向的平臺。系統(tǒng)傳送決定於不同基本光源（A, C or D 65） 及觀看角度 （2°或10°） ，使測量光譜曲線修改至符合CIELAB 數(shù)據(jù)，程式能處理多至10臺。

測量速度多至100 點/分鐘按型號規(guī)格決定，OPTOPLEX Q 規(guī)格H、B、C 等，可安裝多至3 個量度頭2X 反射，1X 透射TUNGSTEN 或 XENONPULSED LAMP波長范圍 380-900nm選配 400-1700nm

• 范圍： 380 ... 900 nm
• 清晰： 10 nm
• 分光計： 敏二極管排柵分光光度計
• 光源： 鹵燈
• 色彩數(shù)據(jù)： Y, L＊, a＊, b＊ （CIELAB）
• 基本光源： A, C, D 65
• 展示： 光譜曲線、不同的模式趨向分析