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Microtrac Inc.新一代納米/Zeta電位分析儀問(wèn)世
點(diǎn)擊次數(shù)：206 發(fā)布時(shí)間：2008/12/22
美國(guó)麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上著名的激光應(yīng)用技術(shù)研究和制造廠商，前身為Leeds & Northrup 研究所，近半個(gè)世紀(jì)以來(lái)，一直著激光粒度分析的前沿技術(shù)，可靠的產(chǎn)品和強(qiáng)大的應(yīng)用支持及完善的售后服務(wù)，使得其的激光粒度分析技術(shù)被廣泛地應(yīng)用于石油，石化，水泥，磨料，冶金，制藥，陶瓷等領(lǐng)域，并成為眾多行業(yè)指定的質(zhì)量檢測(cè)和控制的分析儀器。
美國(guó)麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨(dú)到見(jiàn)解，經(jīng)過(guò)多年的市場(chǎng)調(diào)研和潛心研究，開(kāi)發(fā)出*新一代Zetatrac微電場(chǎng)分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測(cè)量于一體，無(wú)需傳統(tǒng)的比色皿，一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，Zetatrac采用的“Y”型光纖探針光路設(shè)計(jì)，配置膜電極產(chǎn)生微電場(chǎng)，操作簡(jiǎn)單，測(cè)量迅速，無(wú)需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無(wú)需外加大功率電場(chǎng)，無(wú)需更換分別用于測(cè)量粒度和Zeta電位的樣品池，完全消除由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來(lái)的光學(xué)信號(hào)的損失，結(jié)果準(zhǔn)確可靠，重現(xiàn)性好。
以研究開(kāi)發(fā)見(jiàn)長(zhǎng)的美國(guó)麥奇克有限公司，幾經(jīng)坎坷，在激烈的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中始終立于不敗之地。尤其是在日本市場(chǎng)，憑借其極高的性?xún)r(jià)比，各行業(yè)用戶(hù)總數(shù)高達(dá)2,500多臺(tái)，成為日本粉體工業(yè)協(xié)會(huì)的指定品牌。自2004年底進(jìn)入中國(guó)市場(chǎng)以來(lái)，作為專(zhuān)業(yè)激光粒度分析儀的領(lǐng)航者，采用的光散射/衍射技術(shù)，全自動(dòng)化的設(shè)計(jì)帶來(lái)無(wú)與倫比的靈敏度和重復(fù)性，在中國(guó)的石油石化，環(huán)�？刂�，材料科學(xué)，國(guó)防軍工，航空航天，礦物加工等領(lǐng)域享有很高的聲望。
