X-RAY膜厚測量儀，遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497標(biāo)準(zhǔn)，主要基于WinFTM? V6L核心控制軟件的鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統(tǒng)。采用全新數(shù)學(xué)計(jì)算方法,采用*新的FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco Controlled Measurement）及強(qiáng)大的電腦功能來進(jìn)行鍍層厚度的計(jì)算，在加強(qiáng)的軟件功能之下，簡化了測量比較復(fù)雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標(biāo)準(zhǔn)片之下，一樣精準(zhǔn)測量。儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細(xì)表面積或超薄鍍層的測量。能夠快速有效的測量出鍍層的厚度，及其成份分析。

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