膜厚分析儀結合了測量鍍層厚度及物料分析雙功能在一整體的設計，此儀器是采用能量散射X-射線螢光測量原理，符合標準來進行非破壞及不接觸的測量。除了可以測量鍍層厚度外，還可以計算合金中各種元素的含量。膜厚分析儀具備手動的測量臺，可移動的范圍是50MM*50MM，不需要打開測量門便可以移動不同測量，更方便操作。膜厚分析儀測試方向由下向上照射的設計是只需要對準量位置，而不需要調校焦距便可以進行測量，并且由下向上的照射，極適合對一些較小的樣板進行測量，尤其是對手表、端子、小螺絲、螺絲帽、一些電氣產品中的小五金零件等等，操作員只需將測試面朝下，不論大小的樣品可直接放進測量室內，不用調距離，只需對準位置，便可立即測量。

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