XDL膜厚儀，運用C測量法能對測量距離修正，可以自動測量復(fù)雜的形狀，大的線路板也可輕易的放在測量頭及測量臺之間的槽進(jìn)行測量。XDL膜厚儀配備微焦距XRAY管，四個電動移動準(zhǔn)值器，尺寸為圓形直徑0.1MM；0.2MM；及方形的0.05MM*0.05MM；0.03MM*0.2MM，還有三個基本濾片選用，使光譜圈更合適分析，基本操作軟件WINFTM V6 LIGHT，XDL膜厚儀可以同時間測量多至層鍍層、或進(jìn)行多至5元素的合金分析、又或是*多測量兩個正離子的藥水濃度測量分析。采用*新數(shù)學(xué)FP法，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成一起的損壞�？蛇m用于各種樣品，從較厚的樣品（機(jī)械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等，測試方向由下向上照射的設(shè)計是只需要對準(zhǔn)量位置，而不需要調(diào)校焦距便可以進(jìn)行測量。你的需求，便是我們的追求，期待您的來電，金霖電子華南地區(qū)總代理 吳小姐 手機(jī)：1 3 6 0 3 0 3 6 7 1 5    TEL：2 9 3 7 1 6 5 1  FAX：2 9 3 7 1 6 5 3 QQ：1 3 5 1 7 9 1 4 6 6  郵箱：www.kinglin5158@163.com   地址：寶安中心區(qū)宏發(fā)中心大廈