產(chǎn)品展示
SPH-1型納米結(jié)構(gòu)表面檢測(cè)裝置
點(diǎn)擊次數(shù)：568發(fā)布時(shí)間：2009/11/2 0:00:00
更新日期：1900/1/1 0:00:00
所 在 地：日本
產(chǎn)品型號(hào)：
相關(guān)標(biāo)簽：
優(yōu)質(zhì)供應(yīng)
詳細(xì)內(nèi)容
● 載荷方式： 通過壓力元件將壓頭從兩邊頂起
● 試驗(yàn)力： 2mN 分辨率 0.1μm
● 深度測(cè)定： 0~2μm 分辨率 0.1nm
● 壓痕觀察倍率：100,000倍以上
