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產(chǎn)品展示

熒光測厚儀

點擊次數(shù):3388發(fā)布時間:2009/11/2 0:00:00

熒光測厚儀

更新日期:1900/1/1 0:00:00

所 在 地:美國

產(chǎn)品型號:MicronX

簡單介紹:MicronX型熒光測厚儀是一種專門應用于半導體材料和電子器件領(lǐng)域的檢測設(shè)備。

相關(guān)標簽:測厚儀 測厚儀價格 MicronX 

優(yōu)質(zhì)供應

詳細內(nèi)容

   MicronX型熒光測厚儀是一種專門應用于半導體材料和電子器件領(lǐng)域的檢測設(shè)備。 檢測區(qū)域為50m~500um. 通過CCD 可放大圖像達300倍。通過高精密度樣品臺可提供元素面分布圖。 可對多達7層的涂層或鍍層進行逐層厚度測量。

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