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賽默飛世爾科技推出全新NITON手持式XRF分析儀
——新一代結(jié)合 GOLDDTM 技術(shù)的賽默飛世爾 NITON XL3t 系列分析儀
BILLERICA, Mass.（2008年11月10日）—— 作為世界科學服務(wù)領(lǐng)域的領(lǐng)導者，賽默飛世爾科技股份有限公司今日推出結(jié)合幾何優(yōu)化大面積電子漂移探測器技術(shù)的賽默飛世爾科技 NITON Xl3t 系列分析儀。新一代結(jié)合 GOLDDTM 技術(shù)的賽默飛世爾 NITON XL3t 系列分析儀提供了更為快速的檢測速度和大幅度提升的檢測效果。突破性的 GOLDD 技術(shù)使得其在輕金屬領(lǐng)域的檢測（包括總體檢測靈敏度和檢測時間）都得到了改善，它比常規(guī)意義上的 Si-PIN 探測器檢測速度快了10倍以上，并且在精確度上，比普通小型硅電子漂移探測器精確達3倍。賽默飛世爾科技是世界上生產(chǎn)手持式X射線熒光分析儀的領(lǐng)導者。
賽默飛世爾科技此款檢測設(shè)備能夠優(yōu)于常規(guī)Si-PIN和SDD探測器，主要是因為其結(jié)合了榮獲R&D 100大獎的Niton XL3t 分析儀配備的50kV，2-watt X射線管，以及近乎完美的幾何設(shè)計和獨有的信息處理軟硬設(shè)備，這就是 GOLDD 技術(shù)，使其在快速分析和*小檢測限均取得了卓越的表現(xiàn)。另外，這項創(chuàng)新使得其可以在沒有加氦氣和真空凈化的條件下完成對部分輕金屬（鎂、鋁、硅、磷、硫）的檢測。
賽默飛世爾科技的NITON分析儀研發(fā)部總裁Bob Wopperer先生這樣說道：“結(jié)合GOLDD技術(shù)的Niton XL3t 分析儀使得手持式X射線熒光分析儀真正達到了實驗室級別的效果。更何況它易于操作，分析快速、精準并且可以在沒有氦氣和真空的條件下檢測輕金屬元素，無論是用于金屬合金分析，礦物勘探，土壤成分分析，還是玩具、電子產(chǎn)品和消費品中違禁物質(zhì)的檢測，它都是*理想的多重檢測設(shè)備�！�
Wopperer先生繼續(xù)說道，“舉例來講，Niton XL3t GOLDD 分析儀是專業(yè)用于廢棄金屬回收的理想設(shè)備，它可以更方便的完成對鋁，鈦等重金屬元素，以及青銅合金的篩選，對于不穩(wěn)定以及微量元素也同樣可以達到卓越的檢測效果。在礦物勘探領(lǐng)域，這款儀器的檢測限更是為地質(zhì)學家分析異常物質(zhì)和地球表面不常見的物質(zhì)而量身定做，這在手持式儀器領(lǐng)域是開創(chuàng)先河之舉。
關(guān)于Niton XL3t 系列分析儀
結(jié)合GOLDD技術(shù)的Niton XL3t 系列分析儀配置了80MHz數(shù)據(jù)信號處理和的嵌入式雙重數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，用于完成計算、數(shù)據(jù)處理、現(xiàn)場影像處理和通訊，同時具備多種標準特性和選裝配置。
