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顆粒測試學(xué)術(shù)論文集
點擊次數(shù)：1266 發(fā)布時間：2008/12/25
第六屆全國顆粒測試學(xué)術(shù)會議是由中國顆粒學(xué)會顆粒測試專業(yè)委員會主辦，濟(jì)南微納儀器有限公司承辦的性顆粒界的盛會。會議于2005年4月在井岡山成功舉辦。顆粒測試學(xué)術(shù)會議每三年一屆，與會人員除了國內(nèi)顆粒界的人員以外，還有很多國外的專家、學(xué)者。
我公司現(xiàn)有少量《中國粉體技術(shù)》專輯一書，詳細(xì)登載了顆粒測試會議的全部學(xué)術(shù)論文。論文包括顆粒測試方法的研究以及應(yīng)用，幾乎涵蓋了目前顆粒測試的所有相關(guān)內(nèi)容。
本書原價150元，現(xiàn)五折銷售。數(shù)量有限，如有需要者，請盡快與我公司聯(lián)系。聯(lián)系電話：0531-88873312
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