THICK800A鍍鎳層測厚儀器

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可定位測試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護(hù)

技術(shù)滿足標(biāo)準(zhǔn)

型號：Thick 800A

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

Thick 800A鍍層膜厚分析儀

標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔。

精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護(hù)傳感器

計算機(jī)及噴墨打印機(jī)

Thick 800A鍍層膜厚分析儀

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。

     X射線熒光光譜儀簡稱：XRF光譜儀，是種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析。

     從原子物理學(xué)的知識我們知道，對每種化學(xué)元素的原子來說，都有其特定的能級結(jié)構(gòu)，其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內(nèi)層電子在足夠能量的子，我們說原子被激發(fā)了，處于激發(fā)態(tài)，這時，其他的外層電子便會填補(bǔ)這空位，也就是所謂躍遷，同時以發(fā)出X射線的形式放出能量。由于每種元素的原子能級結(jié)構(gòu)都是特定的，它被激發(fā)后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應(yīng)元素的存在，而特征X射線的強(qiáng)弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量。

天瑞儀器能量色散X熒光光譜儀厚度測量儀參數(shù)規(guī)格

元素分析范圍：磷（P）～鈾（U）

檢出限：1ppm

分析含量：ppm～99.99％

任意多個可選擇的分析和識別模型

相互獨立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回歸程序

環(huán)境溫度：15℃～30℃

電源：交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

能量分辨率：144±5eV

樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm

儀器尺寸：550mm×410mm×320mm

儀器重量：45kg

漆膜厚度、氧化膜厚度的檢測。