產(chǎn)電鍍層測(cè)厚儀商品技術(shù)參數(shù)

商品介紹

產(chǎn)品特點(diǎn)

光譜測(cè)厚儀是生產(chǎn)廠家的優(yōu)勢(shì)，天瑞儀器是專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)金屬鍍層測(cè)厚儀廠家，分析儀器上市企業(yè)，thick800A是款自動(dòng)化程度較高的儀器，電腦操作，極大方便了客戶使用。配上專(zhuān)門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

光譜測(cè)厚儀采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度

定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加

良好的射線屏蔽作用

測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

光譜測(cè)厚儀采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度

定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

分析含量般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

性能特點(diǎn)

穩(wěn)定X銅光管

半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷

內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶隨時(shí)觀測(cè)樣品

脈沖處理器，數(shù)據(jù)處理快速

手動(dòng)開(kāi)關(guān)樣品腔，操作安方便

三重安保護(hù)模式

整體鋼架結(jié)構(gòu)、外型高貴時(shí)尚

鋅鎳鍍層X(jué)射線測(cè)厚儀FP軟件，無(wú)標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可測(cè)量

應(yīng)用領(lǐng)域

廣泛應(yīng)用于金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛(wèi)浴等行業(yè)

部分產(chǎn)品

XRF鍍層測(cè)厚儀，X熒光鍍層膜厚儀， x-ray鍍層測(cè)厚儀，X光電鍍層測(cè)厚儀，X熒光鍍層測(cè)厚儀品牌，x射線電鍍層測(cè)厚儀，損金屬鍍層測(cè)厚儀，天瑞鍍層檢測(cè)儀，X射線鍍層測(cè)厚儀價(jià)格，五金電鍍層測(cè)厚儀，金屬鍍層分析儀，X射線熒光金屬鍍層分析儀，鍍層膜厚測(cè)試儀， 產(chǎn)電鍍層測(cè)厚儀， x射線熒光鍍層測(cè)厚儀，電鍍層測(cè)厚儀廠家， PCB表面鍍層測(cè)厚儀,X射線熒光多鍍層厚度測(cè)量?jī)x，鍍層分析儀X熒光電鍍層測(cè)厚儀，金屬鍍層測(cè)厚儀，金屬鍍層膜厚儀，X熒光鍍層測(cè)厚儀，電鍍鍍層測(cè)厚儀，xrf鍍層膜厚測(cè)試儀，x射線熒光測(cè)厚儀,X射線鍍層膜厚儀，X射線鍍層測(cè)厚儀。

產(chǎn)品介紹

金屬鍍層分析儀（X-Ray)適用于測(cè)定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。本測(cè)量方法可同時(shí)測(cè)量三層覆蓋層體系，或同時(shí)測(cè)量三層組分的厚度和成分。天瑞儀器thick600金屬鍍層分析儀是款性價(jià)比極高的產(chǎn)品，得到了廣泛應(yīng)用和。

工作原理

X射線光譜方法測(cè)定覆蓋層厚度是基于束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長(zhǎng)和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強(qiáng)度之間存在定的關(guān)系。該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時(shí)又給出實(shí)際的密度，則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度。

技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：THICK600

分析范圍： Ti-U，可分析3層15個(gè)元素

分析厚度：般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）

工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

測(cè)量時(shí)間：40秒（可根據(jù)實(shí)際情況調(diào)整）

探測(cè)器分辨率：（160±5）eV

光管高壓：5-50kV

管流：50μA-1000μA

環(huán)境溫度：15℃-30℃ 

環(huán)境濕度：30%-70%

準(zhǔn)直器：配置不同直徑準(zhǔn)直孔，小孔徑φ0.2mm

儀器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm

儀器重量：30kg

部分產(chǎn)品介紹

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 應(yīng)用領(lǐng)域 

金屬鍍層測(cè)厚儀廣泛應(yīng)用在黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定，主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。

標(biāo)準(zhǔn)配置

開(kāi)放式樣品腔。

精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測(cè)器。

信號(hào)檢測(cè)電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護(hù)傳感器

計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)