X熒光礦石分析儀XRF|江蘇天瑞儀器股份有限公司

產(chǎn)品介紹

我的地質(zhì)礦產(chǎn)行業(yè)，從開(kāi)始均采用化學(xué)分析的手段對(duì)地質(zhì)樣品進(jìn)行測(cè)試，這種方法直沿用到現(xiàn)在依然是種非常的方法，但是其測(cè)試速度慢、對(duì)測(cè)試人員要求高、測(cè)試環(huán)境要求高，無(wú)法實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)快速分析。

從70年代末開(kāi)始直在引入外的分析設(shè)備來(lái)不斷提升分析測(cè)試能力，到X熒光礦石分析儀在地礦系統(tǒng)中應(yīng)用非常廣泛，產(chǎn)品分為臺(tái)式X熒光礦石分析儀和便攜式X熒光礦石分析儀。

性能特點(diǎn)

X熒光法在應(yīng)用于礦石行業(yè)的特點(diǎn)很明顯，分析速度快，前處理簡(jiǎn)單，樣品無(wú)損、人為誤差小、分析范圍廣、檢出限達(dá)到ppm級(jí)等的特點(diǎn)。可以測(cè)液體、固體和粉未樣品�？捎糜谑覂�(nèi)外現(xiàn)場(chǎng)分析

。

1、設(shè)備簡(jiǎn)單易用（野外設(shè)備需要便攜）

2、可快速對(duì)樣品做定性分析

3、對(duì)樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析。

4、樣品處理方法簡(jiǎn)單或無(wú)前處理

5、設(shè)備、維修、維護(hù)簡(jiǎn)單

6、便捷、低廉的售后服務(wù)

儀器分析精度

測(cè)試

便攜式X熒光礦石分析儀測(cè)定多金屬礦中元素的方法

測(cè)試對(duì)象：多金屬礦

儀器：Genius 7000XRF

測(cè)定步驟：

步：前處理樣品-粉碎后壓片10g左右直接測(cè)試。

二步：確定測(cè)試時(shí)間：30S

三步：測(cè)試其重復(fù)性得出相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差

測(cè)試結(jié)果