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產(chǎn)品展示

ROHS X熒光光譜儀測試方法

點擊次數(shù):0發(fā)布時間:2023/4/26 16:14:53

ROHS X熒光光譜儀測試方法

更新日期:2023/4/26 16:14:53

所 在 地:中國大陸

產(chǎn)品型號:EDX1800E

簡單介紹:ROHS X熒光光譜儀測試方法進行x射線熒光光譜分析的樣品,可以是固態(tài),也可以是水溶液。無論什么樣品,樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣品要注意成份偏析產(chǎn)生的誤籌;化學組成相同,熱處理過程不同的樣品,得到的計數(shù)率也不同;成份不均勻的金屬試樣要重熔,快速冷卻后車成圓片;對表面不平的樣品要打磨拋光;對于粉末樣品,要研磨至300目400目,然后壓成圓片,也可以放人樣品槽中測定。

優(yōu)質(zhì)供應

詳細內(nèi)容

  • 企業(yè)類型:制造商
  • 新舊程度:
  • 原產(chǎn)地:江蘇昆山
  • 適用行業(yè):電子電器,油漆油墨涂料,玩具首飾,皮革鞋材等
  • 測試樣品材質(zhì):固體,液體和粉末
  • 測量范圍:S-U
  • 測試時間:60-300秒可調(diào)

ROHS X熒光光譜儀測試報告

 

X熒光光譜儀測試方法: 產(chǎn)品簡介

  1、X熒光光譜儀樣品制備

  進行x射線熒光光譜分析的樣品,可以是固態(tài),也可以是水溶液。無論什么樣品,樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣品要注意成份偏析產(chǎn)生的誤籌;化學組成相同,熱處理過程不同的樣品,得到的計數(shù)率也不同;成份不均勻的金屬試樣要重熔,快速冷卻后車成圓片;對表面不平的樣品要打磨拋光;對于粉末樣品,要研磨至300目400目,然后壓成圓片,也可以放人樣品槽中測定。對于固體樣品如果不能得到均勻平整的表面,則可以把試樣用酸溶解,再沉淀成鹽類進行測定。對于液態(tài)樣品可以滴在濾紙上,用紅外燈蒸干水份后測定,也可以密封在樣品槽中?傊鶞y樣品不能含有水、油和揮發(fā)性成份,更不能含有腐蝕性溶劑。

  2、X熒光光譜儀定性分析

  不同元素的熒光x射線具有各自的特定波長或能量,因此根據(jù)熒光x射線的波長或能量可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀,對于定晶面間距的晶體,由檢測器轉(zhuǎn)動的2e角可以求出x射線的波長入,從而確定元素成份。對于能量色散型光譜儀,可以由通道來判別能量,從而確定是何種元素及成份。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干擾時,仍需人工鑒別。首先識別出x光管靶材的特征x射線和強峰的伴隨線,然后根據(jù)能量標注剩余譜線。在分析未知譜線時,要同時考慮到樣品的來源、性質(zhì)等元素,以便綜合判斷。

  3、X熒光光譜儀定量分析 

  X射線熒光光譜法進行定量分析的根據(jù)是元素的熒光X射線強度Ii與試樣中該元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is為Ci=100%時,該元素的熒光X射線的強度。根據(jù)上式,可以采用標準曲線法、增量法、內(nèi)標法等進行定量分析。但是這些方法都要使標準樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似,否則試樣的基體效應是指樣品的基本化學組成和物理化學狀態(tài)的變化對X射線熒光強度所造成的影響;瘜W組成的變化,會影響樣品對次X射線和X射線熒光的吸收,也會改變熒光增強效應。例如,在測定不銹鋼中Fe和Ni等元素時,由于次X射線的激發(fā)會產(chǎn)生Nika熒光X射線,Nika在樣品中可能被Fe吸收,使Fe激發(fā)產(chǎn)生Feka。測定Ni時,因為Fe的吸收效應使結(jié)果偏低,測定Fe時,由于熒光增強效應使結(jié)果偏高。 

 

ROHS X熒光光譜儀測試方法

 

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產(chǎn)品用途

 

ROHS X熒光光譜儀測試方法

 

X熒光光譜儀如何建立面向應用的標樣 

  如何建立面向應用的標準樣品呢?可以從以下幾步實施:

  1、先將用戶要檢測的樣品材料進行分類,將不同材質(zhì)的樣品分成不同類別。

  2、同類別的材料再按其基材和主要組份分類。

  3、同基材的材料按照其主要組份進行歸化分類。

  4、確認歸化的材料的組份差別控制在可容許范圍內(nèi),并確認其中應無影響譜線的不確定特征干擾元素出現(xiàn),或者按照供應商進行分類。

  5、在1-4步基礎上(用戶可根據(jù)自己需要的度和可操作性選擇進行到那步)后細分的類別,使用ICP_OES和GC_MS等儀器對其中的主要組份、相關組分和待測組分進行定量分析。

  6、根據(jù)用戶需要,不斷擴充標準樣品種類,并對應材料使用者進行對應的物料編號或使用用戶編號,使操作員能使用對應的標準曲線進行該類材料的檢測。

 

ROHS X熒光光譜儀測試方法

 

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