高溫四探針測(cè)試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).
雙電測(cè)四探針儀是運(yùn)用直線四探針雙位測(cè)量。設(shè)計(jì)參照單晶硅物理測(cè)試方法并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
型號(hào)及參數(shù)：
規(guī)格型號(hào) BEST-351B
1.方塊電阻范圍  10^-6～2×10^5Ω/□
2.電阻率范圍 10^-7～2×10^6Ω-cm
3.測(cè)試電流范圍 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA
4.電流精度 ±0.1讀數(shù)
5.電阻精度 ≤0.3%
6.PC軟件界面 顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
7.測(cè)試方式 雙電測(cè)量
8.四探針儀工作電源 AC 220V±10%.50Hz  <30W
9.誤差 ≤3%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10.溫度(選購(gòu)) 常溫－－200℃;400℃；600℃；800℃；1000℃；1200℃；1400℃；1600℃
11.氣氛保護(hù)（氣體客戶自備） 常用氣體如下：氦(He)、氖(Ne)、氬(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn)，均為無(wú)色、無(wú)臭、氣態(tài)的單原子分子
12.溫度精度 沖溫值：≤1-3℃；控溫精度：±1°C
13.升溫速度： 常溫開(kāi)始400℃－－800℃需要15分鐘；800℃-1200℃需要30分鐘；1400℃-1600℃需要250分鐘—300分鐘
14.高溫材料 采用復(fù)合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征
15.PC軟件
 測(cè)試PC軟件一套，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)！
16.電（探針）材料標(biāo)配  鎢電或鉬電+電（探針）陶瓷管 +高溫陶瓷樣品臺(tái)，1套.
17.探針間距  直線型探針，探針間距：4mm；
18.樣品要求 樣品長(zhǎng)度要求≥13mm  樣品寬≥2mm或直徑≥13mm
19.高溫電源：
 供電：400-1200℃ 電源220V，功率2-4KW；380V;1400℃-1600℃電源380V；功率4-6KW：
20.標(biāo)配外（選購(gòu)）： a電腦和打印機(jī)1套；b.標(biāo)準(zhǔn)電阻1-5個(gè)；
c.S型鉑銠探針電（溫度范圍：200-1300度）；
d.B型鉑銠探針電（溫度范圍：1400-1600度）標(biāo)準(zhǔn)配置外訂購(gòu)明細(xì)：
序號(hào) 品名 單位 數(shù)量 備注
1 測(cè)試線 套 1 4條為1套
2 標(biāo)準(zhǔn)電阻 個(gè) 1-5 選購(gòu)規(guī)格和數(shù)量
3 高溫陶瓷樣品平臺(tái) 套 1 適用于固態(tài)樣品；溫度≤1200度
4 高溫陶瓷樣品平臺(tái) 套 1 適用固態(tài)、液體樣品；溫度≤1200度
5 高溫陶瓷樣品平臺(tái) 套 1 適用于固態(tài)樣品；溫度≥1300度
7 高溫陶瓷樣品平臺(tái) 套 1 適用固態(tài)、液體樣品；溫度≥1300度
8 鎢電組合4根 組 1 陶瓷+鎢針一組4根;溫度≤1200度
9 S型鉑銠電組合4根 組 1 陶瓷+鉑銠一組4根;溫度≤1300度
10 B型鉑銠電組合4根 組 1 陶瓷+鉑銠一組4根;溫度≤1700度
11 剛玉坩堝 個(gè) 1 消耗品；
12 剛玉陶瓷管4根 組 1 4根為一組
13 分析軟件 套 1 
14 電腦+打印機(jī) 套 1 依據(jù)客戶要求配置
15 檢測(cè)技術(shù)服務(wù) 份 1 計(jì)量證書(shū)1份
16 高溫手套 雙 1 
17 高溫坩堝鉗 把 1 
18 高溫升降裝置 套 1 
 延保服務(wù)   年 1-3