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產(chǎn)品展示

032-2PIN 晶振探針老化座5.0*3.2 貼片 晶振探針測試座

點擊次數(shù):0發(fā)布時間:2019/11/15 16:25:02

032-2PIN 晶振探針老化座5.0*3.2 貼片 晶振探針測試座

更新日期:2020/3/9 17:10:54

所 在 地:中國大陸

產(chǎn)品型號:5302

簡單介紹:A、產(chǎn)品用途:老化座、測試座,對5032(5.0*3.2)的IC芯片進行高低溫老化測試B、適用封裝: 5032(5.0*3.2)-2PIN晶振探針老化座C、采用雙觸點技術,接觸更穩(wěn)定、體積小。D、采用特殊的工程塑膠,強度高、壽命長、阻抗小、彈性好E、鍍金層加厚,觸點加厚電鍍,超低接觸阻抗、高可靠度,使用壽命(翻蓋結構20000

相關標簽:晶振5302 

優(yōu)質供應

詳細內(nèi)容

 5.0*3.2-2PIN晶振探針老化座

產(chǎn)品簡介

A、產(chǎn)品用途:老化座、測試座,對5032(5.0*3.2)的IC芯片進行高低溫老化測試

B、適用封裝: 5032(5.0*3.2)-2PIN晶振探針老化座

C、采用雙觸點技術,接觸更穩(wěn)定、體積小。

D、采用特殊的工程塑膠,強度高、壽命長、阻抗小、彈性好

E、鍍金層加厚,觸點加厚電鍍,超低接觸阻抗、高可靠度,使用壽命(翻蓋結構20000次)

F、我司可提供規(guī)格書(布板圖)資料,PDF檔\CAD

規(guī)格尺寸

A、型號: 5032(5.0*3.2)-2PIN

B、腳位:2

C、芯片尺寸:5.0*3.2


實物圖拍:

5.0*3.2-2PIN晶振探針老化座

產(chǎn)品簡介

A、產(chǎn)品用途:老化座、測試座,對5032(5.0*3.2)的IC芯片進行高低溫老化測試

B、適用封裝: 5032(5.0*3.2)-2PIN晶振探針老化座

C、采用雙觸點技術,接觸更穩(wěn)定、體積小。

D、采用特殊的工程塑膠,強度高、壽命長、阻抗小、彈性好

E、鍍金層加厚,觸點加厚電鍍,超低接觸阻抗、高可靠度,使用壽命(翻蓋結構20000次)

F、我司可提供規(guī)格書(布板圖)資料,PDF檔\CAD

規(guī)格尺寸

A、型號: 5032(5.0*3.2)-2PIN

B、腳位:2

C、芯片尺寸:5.0*3.2


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