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產(chǎn)品展示

硅片表面有機(jī)污染物分析裝置

點(diǎn)擊次數(shù):348發(fā)布時(shí)間:2010/9/12 20:55:10

硅片表面有機(jī)污染物分析裝置

更新日期:2010/9/12 20:55:10

所 在 地:

產(chǎn)品型號(hào):SWA-256M/256

簡單介紹:SWA256M/256晶片解析裝置可直接對完整的硅片進(jìn)行有機(jī)污染物分析(直徑30cm),無需進(jìn)行切割。SWA256自動(dòng)對硅片上有機(jī)污染物進(jìn)行解析,并富集,與TD-GCMS連接檢測。整個(gè)過程全程自動(dòng)化。SWA 256M對硅片上有機(jī)污染物進(jìn)行解析,并富集,手動(dòng)轉(zhuǎn)移到TD-GCMS進(jìn)行檢測。該儀器完全符合國家標(biāo)準(zhǔn)GBT 24577-2009。

相關(guān)標(biāo)簽:

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細(xì)內(nèi)容

● 可對完整的硅片測量(直徑30cm)。
使用毛細(xì)管柱分析,可以此性測量多種有機(jī)化合物。
可檢測pg/cm2(硅片表面)的微量有機(jī)化合物。
符合國家標(biāo)準(zhǔn)GBT 24577-2009 熱解吸氣相色譜法測定硅片表面的有機(jī)污染物
符合標(biāo)準(zhǔn)SEMI MF1982-99SEMI MF1982-1103

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