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產(chǎn)品展示

TEG Prober

點(diǎn)擊次數(shù):0發(fā)布時(shí)間:2019/6/11 9:55:42

TEG Prober

更新日期:2023/2/6 10:14:48

所 在 地:中國大陸

產(chǎn)品型號(hào):TEG prober-G6

簡單介紹:特點(diǎn):業(yè)界*快的測試速度超高的測試精度穩(wěn)定的測試結(jié)果mult-probe card設(shè)計(jì)0.1um精度的直線電機(jī)平臺(tái)自動(dòng)清針,自動(dòng)測針極小的針痕損傷全自動(dòng)測試

相關(guān)標(biāo)簽:探針臺(tái)  激光修復(fù)機(jī)  晶圓測試 

優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細(xì)內(nèi)容

 
面板TEG Prober
型號(hào) TEG prober-G6 TEG prober-G8.5
外形 2850mm()x2500mm()x2500 mm( 4000mm()x3500mm()x2500 mm()
重量 9700KG 14200KG
電力需求          380V,50Hz, 3Phase, approx. 50A Max
可測試液晶屏尺寸 長寬≤1500 *1850 mm(W x D) , 厚度≤3mm 長寬≤2500 * 2200 mm(W x D) , 厚度≤3mm
平臺(tái)功能 Gantry結(jié)構(gòu)  龍門式,可以選擇雙龍門
X-Y-Z軸運(yùn)動(dòng)行程 1850*1500 *58mm(X-Y-Z)  2500 *2200*58mm(X-Y-Z)
X-Y運(yùn)動(dòng)速度 0~600mm/s可調(diào) 探針規(guī)格 針卡 兩套,可同時(shí)測試兩個(gè)patten
X-Y精度(*小移動(dòng)量) 0.1um Pitch范圍:定制 
X-Y重復(fù)定位精度 ±1um 探針材質(zhì):鎢or鈹銅等
X-Y 軸驅(qū)動(dòng) 直線電機(jī)+光柵尺 工作模式:可以單獨(dú)測試,或者兩個(gè)針卡一起測試。兩個(gè)針卡間的相互距離可調(diào)。
運(yùn)動(dòng)速度 0~10mm/s可調(diào)
Z精度 0.25um 探針和TEG對(duì)位方式 坐標(biāo)定位
Z重復(fù)定位精度 ±1um 測試過程中的二次視覺檢測
Z軸驅(qū)動(dòng) 伺服電機(jī)+光柵尺 探針和TEG的接觸方式 自動(dòng)接觸
Z軸保護(hù) 電機(jī)自鎖+機(jī)械限位保護(hù) 探針自動(dòng)保護(hù)功能:edge sensor 和機(jī)械限位,可以根據(jù)panel厚度設(shè)定限位高度,點(diǎn)針的OD值可設(shè)。
樣品臺(tái)平整度 ±50um平整度 
樣品臺(tái)涂層 防靜電涂層
樣品臺(tái)高低溫  Temp Chuck 或者 Thermal Stream (-55~200)
光學(xué)特性 光路系統(tǒng)倍率:  5X ,10X ,20X,50X  Objects 
探針軸旋轉(zhuǎn)行程 ±90°
放大倍率范圍50X~ 500X  探針旋轉(zhuǎn)精度 0.01°
聚焦 自動(dòng)聚焦 旋轉(zhuǎn)重復(fù)定位精度 0.03°
CCD 200/500萬像素工業(yè)相機(jī) 探針清潔 自動(dòng)清針
光源 面背光、點(diǎn)背光、上光源 清潔后自動(dòng)測針
光源亮度獨(dú)立可調(diào),面背光可選擇分區(qū)控制 探針臺(tái)漏電精度(安裝針卡的情況) 100fA 以內(nèi)(測試標(biāo)準(zhǔn):給針卡任意針腳加壓—5V~+5V,在不吹N2的情況下,空載測試漏電流<100fA)吹氮?dú)?/span>N2輔助干燥(Recipe 可以設(shè)置是否開啟N2且N2測試報(bào)告體現(xiàn)開N2與不開N2區(qū)別)
激光特性(選件) 激光系統(tǒng) 激光切割系統(tǒng)(2.2mj/Pluse Maximum@50Hz)
0-100%
激光波長 1064nm,532nm,355nm
光斑尺度 1.0um @100X  object 測試能力 測試系統(tǒng) 兩套
2.0um @50X  object 半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng):2*HRSMU+4*MPSMU+CV 測試單元+高精度矩陣開關(guān)等
工作模式 One Shot/Burst/Continue
形狀 可調(diào)節(jié)的矩形 TFT測試項(xiàng)目 Ion
控制 工作模式 自動(dòng)測試,CIM通訊,實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的自動(dòng)導(dǎo)入和輸出 Ioff
Vth
上下片 機(jī)械手或者流水線 Mobility
CIM系統(tǒng) Swing
減震 被動(dòng)式減震系統(tǒng),能夠確保點(diǎn)針測試的穩(wěn)定性 Resistance測試項(xiàng)目 Rs
工業(yè)PC 23寸顯示器&電腦:i7 處理器,1TB硬盤2 Rc
(其中一塊為備份硬盤)8G內(nèi)存,1G獨(dú)立顯卡 輸送電壓 ±200V
通訊接口 RS232/485/TCP/IPGPIB 輸送電流 ±1A
安全 整機(jī)帶屏蔽罩,操作人員在屏蔽罩外操作 電流測試分辨率 1fA(無需前置放大器)
緊急開關(guān)EMO 電壓測試分辨率 0.5uV 
限位sensor,運(yùn)動(dòng)平臺(tái)和探針系統(tǒng)限位互鎖 CV 測試頻率范圍 1kHz~5MHz
Interlock報(bào)警,自動(dòng)關(guān)閉系統(tǒng)(軟件設(shè)置為可選 接地單元電流宿能力 4.2A GNDU
應(yīng)用方向 OLED/TFT-LCD Panel TEG 電學(xué)測試
 
特點(diǎn):
業(yè)界*快的測試速度 超高的測試精度
穩(wěn)定的測試結(jié)果 mult-probe card設(shè)計(jì)
0.1um精度的直線電機(jī)平臺(tái) 自動(dòng)清針,自動(dòng)測針
極小的針痕損傷 全自動(dòng)測試

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聯(lián)系人:朱秋苑

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  • 最后認(rèn)證時(shí)間:
  • 法人:
  • 注冊(cè)號(hào):
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