IC點(diǎn)針墊偵錯(cuò),點(diǎn)針墊偵錯(cuò)公司,上海點(diǎn)針墊偵錯(cuò)檢測(cè),宜特檢測(cè)點(diǎn)針墊偵錯(cuò) (CAD Probe Pad)?FIB可在IC上做訊號(hào)擷取點(diǎn)。利用FIB將要量取之訊號(hào)點(diǎn)拉到IC表面，并利用機(jī)械式探針(Mechanical prober) 擷取IC內(nèi)部訊號(hào)。利用Mechanical prober量測(cè)訊號(hào)時(shí)，將IC放到測(cè)試板提供測(cè)試所需之電壓環(huán)境。一般IC內(nèi)部訊號(hào)驅(qū)動(dòng)能力較弱，可能推不動(dòng)導(dǎo)線加上示波器的負(fù)載，造成方波變成三角波、DC準(zhǔn)位降低等問(wèn)題，可利用Active Probe來(lái)改善此現(xiàn)象。關(guān)于宜特：iST始創(chuàng)于1994年的臺(tái)灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗(yàn)證、失效分析、材料分析、無(wú)線認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現(xiàn)已有7座實(shí)驗(yàn)室12個(gè)服務(wù)據(jù)點(diǎn)，目前已然成為深具影響力之芯片驗(yàn)證第三方實(shí)驗(yàn)室。點(diǎn)針墊偵錯(cuò) (CAD Probe Pad)