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芯片晶元切割試驗

點擊次數(shù):0發(fā)布時間:2017/9/15 11:45:07

芯片晶元切割試驗

更新日期:2017/9/15 11:45:07

所 在 地:中國大陸

產品型號:

簡單介紹:iST宜特始創(chuàng)于1994年,從IC線路除錯修改起家,逐年拓展新服務,包括故障分析、可靠度驗證、化學分析與有線無線認證等,建構完整IC驗證與分析工程服務平臺。服務范圍囊括IC產業(yè)供應鏈上中下游之客群。隨著云端、物聯(lián)網、車聯(lián)網的快速興起,iST不僅專注核心服務,并關注規(guī)范趨勢,不斷拓展多元性服務,建置車用電子驗證平臺、高速傳輸訊號測試與無線訊號驗證,與工藝材料分析技術。追求精確、效率、完美的i

相關標簽:芯片晶元切割公司 

優(yōu)質供應

詳細內容

芯片晶元切割公司,晶圓切割,上海晶圓切割試驗公司,宜特檢測晶圓切割(Wafer Dicing )服務項目:一般晶圓切割多芯片晶圓切割(圖一:多芯片晶圓切割)共乘芯片再切割基板切割(封膠或不封膠)(圖二:基板切割)陶瓷/玻璃板切割IPD切割(圖三:IPD材質切割)客退封裝體再切割除以上作業(yè)內容外,如有客戶針對封裝切割相關問題需要討論,封裝相關工程人員亦會針對廠內設備人力及自身經驗,提供專業(yè)意見或是解決方案。關于宜特:iST宜特始創(chuàng)于1994年的臺灣,主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、失效分析、材料分析、無線認證等技術服務。2002年進駐上海,全球現(xiàn)已有7座實驗室12個服務據(jù)點,目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實驗室。晶圓切割(Wafer Dicing )

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