探針量測,奈米級探針量測公司,上海奈米級探針量測,宜特檢測奈米級探針量測(Nano Prober)隨著IC 制程微小化，組件密度提升，微區(qū)電性量測是IC組件研究發(fā)展中不可或缺的技術。Nano-probing技術即在掃瞄式電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope, SEM)其高倍率觀察下，以奈米操控器搭配Keithley 4200量測系統(tǒng)，能直接提供單一晶體管的電性曲線，相較于導電性原子力顯微術(Conductive Atomic Force Microscopy, CAFM)，由于SEM能提供及時影像因此能快速找到欲量測位置。此外，在SEM真空環(huán)境下進行電性量測，能避免外界環(huán)境的噪聲干擾，對于半導體組件故障分析及其在奈米尺度下之研究發(fā)展均能提供直接且快速的信息。 應用：組件電性特性分析組件質量及故障分析微機電及IC微結構研究機臺規(guī)格/ 極限:場發(fā)射掃瞄式電子顯微鏡【廠牌型號】：JSM-6700F (JEOL)電流電壓量測系統(tǒng)【廠牌型號】：Keithley Model 4200-SCS微電探針量測系統(tǒng)【廠牌型號】： Zyvex關于宜特：iST始創(chuàng)于1994年的臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗證、失效分析、材料分析、無線認證等技術服務。2002年進駐上海，全球現(xiàn)已有7座實驗室12個服務據(jù)點，目前已然成為深具影響力之芯片驗證第三方實驗室。奈米級探針量測(Nano Prober)