探針Probe測(cè)試,上海探針測(cè)試公司,上海探針測(cè)試,宜特檢測(cè)Probe測(cè)試在顯微鏡底下，利用探針搭接于IC內(nèi)部線路，使其可以外接各類設(shè)備，以便量測(cè)或輸入訊號(hào)。宜特科技目前擁有的探針與應(yīng)用相關(guān)訊息如下:探針?lè)譃橛册�、軟針及Active Probe。硬針之針尖主要規(guī)格為1 μm及5 μm；軟針之針尖為 < 1 μm，主要應(yīng)用在高頻電路及FIB probing PAD及Active Probe(200 MHz)。當(dāng)分析樣品需使用如EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve tracer等儀器卻無(wú)無(wú)適當(dāng)治具或socket可用時(shí)，可由點(diǎn)針?lè)绞教峁┯嵦?hào)輸入輸出。Wafer可搭配Probe card做各項(xiàng)測(cè)試。實(shí)驗(yàn)室另架設(shè)有 Laser system ,可做Laser cut。關(guān)于宜特：iST始創(chuàng)于1994年的臺(tái)灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗(yàn)證、失效分析、材料分析、無(wú)線認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現(xiàn)已有7座實(shí)驗(yàn)室12個(gè)服務(wù)據(jù)點(diǎn)，目前已然成為深具影響力之芯片驗(yàn)證第三方實(shí)驗(yàn)室