芯片失效分析公司,上海芯片失效分析,芯片失效分析,宜特檢測(cè)失效分析(Failure Analysis or FA)所提供的服務(wù)項(xiàng)目提供客戶咨詢與討論提供客戶做IC組件失效分析,EFA(電性故障分析) ,PFA(物性故障分析)等所需資源與設(shè)備提供客戶一步到位的分析服務(wù)提供第三者公證報(bào)告可協(xié)助解決的故障分析的種類ESD / Latch up / OLT / Pre -condition /Reliability 等測(cè)試后的失效分析服務(wù)驗(yàn)退樣品分析服務(wù)或?qū)Ξa(chǎn)品瑕疵原因之分析服務(wù)C/P , F/T ,PCBA 等流程后之樣品分析服關(guān)于宜特:iST宜特始創(chuàng)于1994年的臺(tái)灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗(yàn)證、失效分析、材料分析、無線認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現(xiàn)已有7座實(shí)驗(yàn)室12個(gè)服務(wù)據(jù)點(diǎn)，目前已然成為深具影響力之芯片驗(yàn)證第三方實(shí)驗(yàn)室。