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產(chǎn)品展示

芯片離子研磨

點(diǎn)擊次數(shù):0發(fā)布時(shí)間:2017/8/22 15:04:03

芯片離子研磨

更新日期:2017/8/22 15:04:03

所 在 地:中國大陸

產(chǎn)品型號(hào):

簡單介紹:iST宜特始創(chuàng)于1994年,從IC線路除錯(cuò)修改起家,逐年拓展新服務(wù),包括故障分析、可靠度驗(yàn)證、化學(xué)分析與有線無線認(rèn)證等,建構(gòu)完整IC驗(yàn)證與分析工程服務(wù)平臺(tái)。服務(wù)范圍囊括IC產(chǎn)業(yè)供應(yīng)鏈上中下游之客群。隨著云端、物聯(lián)網(wǎng)、車聯(lián)網(wǎng)的快速興起,iST不僅專注核心服務(wù),并關(guān)注規(guī)范趨勢,不斷拓展多元性服務(wù),建置車用電子驗(yàn)證平臺(tái)、高速傳輸訊號(hào)測試與無線訊號(hào)驗(yàn)證,與工藝材料分析技術(shù)。追求精確、效率、完美的i

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優(yōu)質(zhì)供應(yīng)

詳細(xì)內(nèi)容

離子研磨,上海離子研磨公司,上海離子研磨服務(wù),宜特檢測離子研磨(CP)原理: 離子束剖面研磨(Cross section polisher, CP)是利用離子束去切削出樣品之剖面,不同于一般樣品剖面研磨,離子束的切削可以避免在研磨過程中的應(yīng)力影響。尤其對于待觀測樣品同時(shí)存在硬度差異較大的材質(zhì)時(shí),CP可解決軟性材料在研磨過程中應(yīng)力所造成的延展。另外,經(jīng)CP處理出來的樣品剖面因?yàn)椴皇軕?yīng)力的影響,可針對樣品表面之材料特性進(jìn)行更精確的分析,例如: EDS, WDS, Auger及EBSD。CP其有效的樣品處理范圍約可達(dá)500μm。應(yīng)用: CP樣品制備:對軟性材料,例如銅、鋁、金、錫、高分子材料(須特別注意熔融溫度)。對硬性材質(zhì),例如陶瓷、玻璃等。由金屬材料、陶瓷材料或高分子材料等兩種或兩種以上的材料經(jīng)過復(fù)合而制備的多相材料。關(guān)于宜特:iST始創(chuàng)于1994年的臺(tái)灣,主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗(yàn)證、材料分析、失效分析、無線認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海,全球現(xiàn)已有7座實(shí)驗(yàn)室,12個(gè)服務(wù)據(jù)點(diǎn),目前已然成為深具影響力之芯片驗(yàn)證第三方實(shí)驗(yàn)室

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