導(dǎo)電性原子力顯微鏡(AFM)原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope, AFM），具有原子級解析力，是微觀表面結(jié)構(gòu)的重要分析工具。主要原理是藉由針尖與試片間的原子作用力，使懸臂梁產(chǎn)生微細(xì)位移，以測得樣品表面形貌起伏，可應(yīng)用于多種材料表面檢測。iST宜特AFM分析優(yōu)勢 兩岸僅有可分析12吋wafer的AFM實(shí)驗(yàn)室，保存您完整wafer以便后續(xù)進(jìn)行其他實(shí)驗(yàn)。外加其他功能顯微鏡，分析應(yīng)用之范圍更擴(kuò)大。如CAFM導(dǎo)電式原子力顯微鏡（Conductive Atomic Force Microscopy, CAFM）和SCM掃描式電容顯微鏡（Scanning Capacitance Microscopy，SCM)。 AFM服務(wù)項(xiàng)目： 薄膜粗糙度檢測微觀表面結(jié)構(gòu)研究2D/3D材料表面形貌奈米級縱深分析 關(guān)于宜特：iST始創(chuàng)于1994年的臺灣，主要以提供集成電路行業(yè)可靠性驗(yàn)證、材料分析、失效分析、無線認(rèn)證等技術(shù)服務(wù)。2002年進(jìn)駐上海，全球現(xiàn)已有7座實(shí)驗(yàn)室12個服務(wù)據(jù)點(diǎn)，目前已然成為深具影響力之芯片驗(yàn)證第三方實(shí)驗(yàn)室。